Y99-61511-33 9913944为了 MOSFET-C 电路应用进行的 MOSFET 失真分析=Distortion analysis of MOSFETs for application inMOSFET-C circuits[会,英]/Scheider,M.C.&Galup-Montoro,C.//1998 IEEE International Sympo-sium on Circ...Y99-61511-33 9913944为了 MOSFET-C 电路应用进行的 MOSFET 失真分析=Distortion analysis of MOSFETs for application inMOSFET-C circuits[会,英]/Scheider,M.C.&Galup-Montoro,C.//1998 IEEE International Sympo-sium on Circuits and Systems,Vol.1 of 6.—33～36(YG)展开更多
Y2000-62040-751 0020807波谱质量测量的性能=The performance of spectralquality measures[会,英]/Broersen,P.M.T.//Proceed-ings of 16th IEEE Instrumentation and MeasurementTechnology Conference,Vol.2.-751～756(F)本文比较...Y2000-62040-751 0020807波谱质量测量的性能=The performance of spectralquality measures[会,英]/Broersen,P.M.T.//Proceed-ings of 16th IEEE Instrumentation and MeasurementTechnology Conference,Vol.2.-751～756(F)本文比较和讨论了两类不同的质量测量方法:绝对方法和相对方法。就象波谱失真和似然比。这种方法基于时间序列理论并且可以被在频率域中写为相对误差。它可以用于许多领域。绝对类属于集成波谱上的方差方法,为所有频率提供相同的加权。这种测量方法基于冲击响应间的方差。绝对类方法实际应用领域不大,主要用于语音方面。Y2000-62438 00208081999年 IEEE 欧洲频率与时间论坛及国际频率控制会议录,卷1=1999 IEEE proceedings of the joint meetingof European frequency and time forum and展开更多
Y98-61429-786 9908220虚拟阴极振荡的高功率微波(HPM)锁频技术的研究=The studies of HPM frequency-lock technique of VCO[会,英]/Zhang,Y.Z.& Liu,J.L.//1997 IEEE11th International Pulsed Power Conference,Vol.1.—786～790...Y98-61429-786 9908220虚拟阴极振荡的高功率微波(HPM)锁频技术的研究=The studies of HPM frequency-lock technique of VCO[会,英]/Zhang,Y.Z.& Liu,J.L.//1997 IEEE11th International Pulsed Power Conference,Vol.1.—786～790(AG)一种金属谐振腔被成功地应用于从虚拟阴极振荡(VCO)中锁定高功率微波(HPM)频率。计算出了电子束空间电荷和能量抽取隙对腔固有频率的影响。在理论分析和模拟测试的基础上。展开更多
Y98-61452-169 9915821在薄非晶层 SiO<sub>2</sub>中的击穿统计滞后时间的测量=Measurements of statistical lay time of breakdown in thinamorphous layers of SiO<sub>2</sub>[会,英]//1998 IEEE Interna...Y98-61452-169 9915821在薄非晶层 SiO<sub>2</sub>中的击穿统计滞后时间的测量=Measurements of statistical lay time of breakdown in thinamorphous layers of SiO<sub>2</sub>[会,英]//1998 IEEE Interna—tional Symposium on Electrical Insulation,Vol.1.—169～172（AG）文中介绍了金属-氧化物.半导体（MOS）结构中击穿的实验检验情况。从结果情况来看,需开发用于研究非晶固态薄膜击穿用的液态电介质材料的理论方法。表明固体非晶电介质层对于测试液体击穿的电离机理是一个相当好的模型系统。参69915822一种快速高精度测频方法[刊]/郑丹玲//重庆邮电学院学报.—1999,11（2）.—56～57,62（C）展开更多
Y2001-62725-235 0117348软开关功率因子校正变换器的分析和设计=Analysisand design of soft-switching power factor correction con-verter[会,英]/Ahu-Qahouq,J.& Wei,H.//2000IEEE International Symposium on Circuits and Sy...Y2001-62725-235 0117348软开关功率因子校正变换器的分析和设计=Analysisand design of soft-switching power factor correction con-verter[会,英]/Ahu-Qahouq,J.& Wei,H.//2000IEEE International Symposium on Circuits and Systems,Vol.3.—235～238(HC)0117349接收机与频谱分析仪的差异——EMC测量设备的选择[刊]/陈峰//安全与电磁兼容.—2001,(2).—23～24,32(C)0117350用多波群测编码压缩系统频响时指标变差的原因及相关问题[刊]/李瑞锋//电视技术.—2001,(5).—99,102(L)展开更多
Y2002-63243 02205892001年 IEEE 频率控制会议录=2001 IEEE interna-tional frequency control symposium & PDA exhibition[会,英]/IEEE Ultrasonics,Ferroelectrics and Frequen-cy Control Society.—2001.—847P.(E)本会议录...Y2002-63243 02205892001年 IEEE 频率控制会议录=2001 IEEE interna-tional frequency control symposium & PDA exhibition[会,英]/IEEE Ultrasonics,Ferroelectrics and Frequen-cy Control Society.—2001.—847P.(E)本会议录收集了于2001年6月6～8日在华盛顿Seattle 召开的频率控制会议上发表的142篇论文,内容涉及原子标准,THz 源,噪声、频率及时间转换与时间度量,声表面波在 LGTX 衬底上参数测量,非均匀材料与 SAW 器件相关特性,Langasite 单晶,合成石英晶体生长晶格缺陷,晶体谐振器高温声学损耗,传感器。展开更多
Y98-61350-389 9904977平方波的数字频率测量=Digital frequency measure-ment of a square wave[会,英]/Hill,M.& Cantoni,A.//1997 IEEE 40th Midwest Symposium on Circuitsand Systems,Vol.1.—389～393(HG)
Y2002-63121-25 0218231全滞后旋转-参考相关仪及其有效实现=An all-lag ro-taring-reference correlator and its efficient implementation[会,英]/Ng, T. -S. & Yip, K. -W.//The IEEE In-ternational Symposium on Circuits and...Y2002-63121-25 0218231全滞后旋转-参考相关仪及其有效实现=An all-lag ro-taring-reference correlator and its efficient implementation[会,英]/Ng, T. -S. & Yip, K. -W.//The IEEE In-ternational Symposium on Circuits and Systems Vol. 4 of5.—25～28(HE)Y2002-63121-190 0218232低成本 CMOS 时间间隔测量核=A low-cost CMOStime interval measurement core [会,英]/Hsiao, M. -J.& Huang, J. -R.//The IEEE International Symposiumon Circuits and Systems Vol. 4 of 5.—I90～193(HE)展开更多
文摘Y99-61511-33 9913944为了 MOSFET-C 电路应用进行的 MOSFET 失真分析=Distortion analysis of MOSFETs for application inMOSFET-C circuits[会,英]/Scheider,M.C.&Galup-Montoro,C.//1998 IEEE International Sympo-sium on Circuits and Systems,Vol.1 of 6.—33～36(YG)
文摘Y2000-62040-751 0020807波谱质量测量的性能=The performance of spectralquality measures[会,英]/Broersen,P.M.T.//Proceed-ings of 16th IEEE Instrumentation and MeasurementTechnology Conference,Vol.2.-751～756(F)本文比较和讨论了两类不同的质量测量方法:绝对方法和相对方法。就象波谱失真和似然比。这种方法基于时间序列理论并且可以被在频率域中写为相对误差。它可以用于许多领域。绝对类属于集成波谱上的方差方法,为所有频率提供相同的加权。这种测量方法基于冲击响应间的方差。绝对类方法实际应用领域不大,主要用于语音方面。Y2000-62438 00208081999年 IEEE 欧洲频率与时间论坛及国际频率控制会议录,卷1=1999 IEEE proceedings of the joint meetingof European frequency and time forum and
文摘Y98-61429-786 9908220虚拟阴极振荡的高功率微波(HPM)锁频技术的研究=The studies of HPM frequency-lock technique of VCO[会,英]/Zhang,Y.Z.& Liu,J.L.//1997 IEEE11th International Pulsed Power Conference,Vol.1.—786～790(AG)一种金属谐振腔被成功地应用于从虚拟阴极振荡(VCO)中锁定高功率微波(HPM)频率。计算出了电子束空间电荷和能量抽取隙对腔固有频率的影响。在理论分析和模拟测试的基础上。
文摘Y98-61452-169 9915821在薄非晶层 SiO<sub>2</sub>中的击穿统计滞后时间的测量=Measurements of statistical lay time of breakdown in thinamorphous layers of SiO<sub>2</sub>[会,英]//1998 IEEE Interna—tional Symposium on Electrical Insulation,Vol.1.—169～172（AG）文中介绍了金属-氧化物.半导体（MOS）结构中击穿的实验检验情况。从结果情况来看,需开发用于研究非晶固态薄膜击穿用的液态电介质材料的理论方法。表明固体非晶电介质层对于测试液体击穿的电离机理是一个相当好的模型系统。参69915822一种快速高精度测频方法[刊]/郑丹玲//重庆邮电学院学报.—1999,11（2）.—56～57,62（C）
文摘Y2001-62725-235 0117348软开关功率因子校正变换器的分析和设计=Analysisand design of soft-switching power factor correction con-verter[会,英]/Ahu-Qahouq,J.& Wei,H.//2000IEEE International Symposium on Circuits and Systems,Vol.3.—235～238(HC)0117349接收机与频谱分析仪的差异——EMC测量设备的选择[刊]/陈峰//安全与电磁兼容.—2001,(2).—23～24,32(C)0117350用多波群测编码压缩系统频响时指标变差的原因及相关问题[刊]/李瑞锋//电视技术.—2001,(5).—99,102(L)
文摘Y98-61350-389 9904977平方波的数字频率测量=Digital frequency measure-ment of a square wave[会,英]/Hill,M.& Cantoni,A.//1997 IEEE 40th Midwest Symposium on Circuitsand Systems,Vol.1.—389～393(HG)
文摘Y2002-63121-25 0218231全滞后旋转-参考相关仪及其有效实现=An all-lag ro-taring-reference correlator and its efficient implementation[会,英]/Ng, T. -S. & Yip, K. -W.//The IEEE In-ternational Symposium on Circuits and Systems Vol. 4 of5.—25～28(HE)Y2002-63121-190 0218232低成本 CMOS 时间间隔测量核=A low-cost CMOStime interval measurement core [会,英]/Hsiao, M. -J.& Huang, J. -R.//The IEEE International Symposiumon Circuits and Systems Vol. 4 of 5.—I90～193(HE)
