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电力高端控制芯片封装协同设计、仿真与验证 被引量:3
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作者 白利娟 郑奇 +4 位作者 何慧敏 李德健 关媛 韩顺枫 曹立强 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第10期795-800,共6页
芯片封装作为芯片协同设计的核心,与芯片设计端协同设计芯片布局和管脚分布,与印制电路板(PCB)设计端协同设计球栅阵列(BGA)焊球布局,并完成封装设计、优化与验证。时序仿真以I/O数据传输速率最高的双倍数据速率(DDR)同步动态随机存储器... 芯片封装作为芯片协同设计的核心,与芯片设计端协同设计芯片布局和管脚分布,与印制电路板(PCB)设计端协同设计球栅阵列(BGA)焊球布局,并完成封装设计、优化与验证。时序仿真以I/O数据传输速率最高的双倍数据速率(DDR)同步动态随机存储器(SDRAM)模块为例,对整个链路进行仿真分析,在数据传输速率为1 333 Mibit/s、最差码型的情况下,仿真得到的数据信号DQ0眼图的眼宽为599.41 ps。电力控制芯片的电热仿真协同进行,芯片实际功耗为1.5 W、自然环境温度为32℃时,得到封装叠层的最大电流密度为104.28 A/mm^(2),各个电源在芯片焊盘处的压降均在2%之内,芯片的塑封表面中心仿真温度为52.9℃。在同样条件下测试,测得塑封表面中心温度为51.5℃,与仿真结果相比误差较小。 展开更多
关键词 电力高端控制芯片 协同设计 信号完整性 电源完整性 热分析
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