负性液晶材料电压保持率的研究

电压保持率(VHR)是表征液晶材料信赖性特性的重要参数之一,液晶材料的线残像特性与VHR相关。本文着重探讨了负性液晶材料在搭配不同PI材料,在不同电压、不同温度时VHR的表现。通过使用由不同PI材料制备的测试盒测量液晶材料在不同电压和温度下的VHR,从而得出负性液晶材料在不同条件下VHR的变化趋势。实验结果表明,测试盒的VHR值受到液晶材料和PI材料的共同影响。|Δε|较大的液晶材料VHR相对较低。在常温时,伴随充电电压升高,测试盒VHR呈下降趋势;而在高温时趋势相反,伴随充电电压升高,VHR呈上升趋势。|Δε|较高的液晶材料含有较多极性成分,易出现相对较低的VHR。常温时,离子运动较慢,伴随充电电压升高测试盒离子析出持续增加,离子析出增加会使测试盒VHR呈下降趋势。而高温时,离子活性较强,测试盒会析出大量离子,而大量离子不纯物的存在会使液晶盒在充电放时产生直流电残留,伴随充电电压升高,直流电残留电会更加严重,因此导致测试盒伴随VHR呈上升趋势。

有机可溶性聚酯酰亚胺的合成及其液晶分子取向特性研究

采用偏苯三酸酐酰氯(TMAC)与乙二醇反应制备了含有酯键的乙二醇双苯甲酸酯-3,3',4,4′-四酸二酐(TMEG)。然后采用该二酐单体分别与芳香族二胺单体,包括4,4′-二胺基二苯甲烷(MDA)、4,4′-二胺基二苯胺(NDA)、1,4-双[2-(4-胺基苯基)-2-丙基]苯(BisP)以及1,3-双[2-(4-胺基苯基)-2-丙基]苯(BisM)通过两步化学亚胺化工艺制备了可溶性聚酯酰亚胺(PEsI)树脂。凝胶渗透色谱(GPC)测试结果显示,该系列PEsI树脂的数均分子量(M_(n))在6.21×10^(4)~1.64×10^(5) g/mol,表明TMEG具有较高的反应活性。该系列PEsI树脂在极性非质子性溶剂,如N-甲基吡咯烷酮(NMP)、N,N-二甲基乙酰胺(DMAc)等中具有良好的溶解性,但在低极性溶剂,如乙二醇丁醚(BC)体系中则不溶解。采用PEsI/NMP/BC体系配制了PEsI液晶取向剂,并以此装配了液晶盒。测试结果显示,基于TMEG的PEsI取向膜具有良好的耐热稳定性,其5%失重温度超过了400℃,玻璃化转变温度(T_(g))超过了160℃。此外,制备的PEsI取向膜还具有良好的光学透明性,其在400 nm波长处的透光率(T_(400))超过了79.0%。摩擦处理的PEsI取向膜显示了对液晶分子良好的取向效果,液晶分子的预倾角(θ_(p))为2.28°~2.93°。液晶盒的电压保持率(VHR)超过了94%。

配向膜材料与面残影的关联性研究

利用mini-cell作为评价平台,从配向膜材料自身特性角度,对配向膜材料与面残影之间的关联性进行了综合研究。一方面,配向膜材料自身优异的稳定性有助于维持电压保持率(VHR);另一方面,配向膜材料自身的低电阻率特性有助于存储电荷的释放,利于实现较低的残余电流(RDC)。而当配向膜材料的RDC和高低温间VHR变化值同时处于较低水平时,可以获得面残影水平较低的TFT-LCD模块。因此,利用mini-cell对配向膜材料进行评估,通过比较RDC以及ΔVHR数值,可以间接实现对TFT-LCD的残影结果评估,为实际生产中产品残影的改善提供了基础理论指导,具有重要的指导性作用。

基于杂质离子含量评价的LTPS-LCD面板测量体系

残像是影响液晶显示器(LCD)面板品质的重要因素,残像的不良改善已成为面板工厂持续性研究课题。残像程度与杂质离子的含量正相关,为了实现对低温多晶硅(LTPS)LCD盒内杂质离子含量的监控,本文系统地对LTPS-LCD面板测试盒测量体系进行了研究,并对该测量体系的稳定性、分辨能力进行了探讨。首先针对LTPS技术的面板设计了一种新的测试盒,然后采用液晶电压保持率(Voltage Holding Residual,VHR)评价盒内杂质离子含量,运用测量系统分析方法对其可靠性进行评估,最后通过对比不同紫外线(UV)照射时间与光配向烘烤时间下VHR的变化分析其分辨力。实验结果表明该测量体系的量具重复性、再现性(Gage R&R%)为10.77%,变异与流程公差(P/T)为26.93%<30%,可区分数为13>5,不同批次VHR均值维持在93%~95%,测量结果可靠、稳定,并能有效识别出VHR差异。本文设计的测试盒符合LTPS-LCD面板产业对杂质离子含量监测需求,可为工厂实际生产中杂质离子的监控提供参考。

色阻对残像影响的研究

本文通过色阻是否有离子析出,进而产生残像的验证,得出了色阻有离子的析出,从而对残像造成影响的结论。通过引入电压保持率VHR评价色阻材料,验证不同VHR色阻残像的表现,得出了电压保持率VHR越高,产品残像表现越好的结论。为实际生产应用色阻材料的选用提供了参考。