液晶空间光调节杨氏双缝干涉法透明介质折射率的优化测量

在传统的杨氏双缝干涉实验中,受限于双缝的机械化加工精度,双缝干涉光路与理论相比偏差较大,得益于液晶光阀良好的光学性能,实现了双缝电子化,即电脑显示器的图像转化为电压信号控制液晶光阀,从而模拟出可自由调节大小的高精度双缝。进而研究了电子化双缝的干涉光路经过透明介质后的干涉条纹间距的变化,进而推导出了透明介质折射率与干涉条纹间距的关系式。为优化测量利用CCD采集到的图像信息,采用photoshop处理图像,并通过显示屏像素点的间距计算得到放大系数,从而测定相应的条纹的实际间距,提高了实验数据采样的精度。最后运用数理方法分析了测量误差。