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电子封装器件BGA的实时全息干涉实验研究 被引量:4
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作者 王卫宁 张存林 +1 位作者 吴一平 王朝阳 《激光杂志》 CAS CSCD 北大核心 1999年第3期46-48,共3页
90年代以来,表面封装器件(SMD)向高密度化、精密化、薄型化和高集成化方向快速地发展。在研究这些新型电子封装的应力—应变实验技术中,全息干涉测量方法因其高灵敏度、高精度、非接触性、全场分析,可直接获取离面位移等优点... 90年代以来,表面封装器件(SMD)向高密度化、精密化、薄型化和高集成化方向快速地发展。在研究这些新型电子封装的应力—应变实验技术中,全息干涉测量方法因其高灵敏度、高精度、非接触性、全场分析,可直接获取离面位移等优点而被作为表面安装技术(SMT)可靠性分析的有效方法。本文采用实时全息干涉方法对加电运行中的PBGA器件及外部热辐射条件下PBGA的离面变形进行了测量,得到PBGA呈球面弯曲及马鞍形翘曲变形的实验结果,并初步分析了产生形变差异的原因。 展开更多
关键词 PBGA SMT 实时全息干涉 热变形 电子封装器件
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高密度电子封装器件的温度分布研究
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作者 周孑民 王锡范 +3 位作者 黄学章 WANGXi-tao CHENLiu LIUJohan 《株洲工学院学报》 2002年第6期62-65,共4页
系统封装(System In Packaging)是电子封装工艺的前沿技术。为了研究这种高密度电子封装器件的热特性,寻求提高散热速率的途径,开发了一个SIP典型器件的传热模型,模拟了器件的热传递过程和温度分布状况,探讨了各种设计参数和物性参数对... 系统封装(System In Packaging)是电子封装工艺的前沿技术。为了研究这种高密度电子封装器件的热特性,寻求提高散热速率的途径,开发了一个SIP典型器件的传热模型,模拟了器件的热传递过程和温度分布状况,探讨了各种设计参数和物性参数对温度场的影响,为进一步改善器件的热性能提供了理论依据。 展开更多
关键词 高密度电子封装器件 温度分布 热特性 散热速率 传热模型 集成电路
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低温烧结纳米银电子封装材料的研究进展 被引量:1
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作者 胡雳 邹婉莹 +3 位作者 杨德治 李永强 何海英 杨至灏 《中国高新科技》 2023年第16期85-86,共2页
随着第三代半导体器件的高速发展,传统的功率器件封装材料会产生热应力问题、金属间脆性化合物生长问题。低温烧结纳米银具有低温烧结高温服役的特点,还具有优异的导热性能与导电性能,在封装材料方向上具有良好的发展和应用前景。但是,... 随着第三代半导体器件的高速发展,传统的功率器件封装材料会产生热应力问题、金属间脆性化合物生长问题。低温烧结纳米银具有低温烧结高温服役的特点,还具有优异的导热性能与导电性能,在封装材料方向上具有良好的发展和应用前景。但是,低温烧结纳米银仍然存在烧结致密度低、不能实现大面积封装等问题。文章从目前对烧结技术与烧结材料的研究进行总结和分析,提出了低温烧结纳米银材料和技术的难点,及未来需要继续研究的方向。 展开更多
关键词 纳米银 电子器件封装 低温烧结
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铝,镁合金基航空电子器件封装复合材料的进展
4
作者 王祝堂 《有色金属加工》 CAS 1992年第4期33-39,共7页
关键词 金属复合材料 电子器件封装
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Flip Chip技术在集成电路封装中的应用
5
作者 黄家友 《集成电路应用》 2024年第3期56-57,共2页
阐述从集成电路封装发展现状、Flip Chip技术内涵、Flip Chip技术在集成电路封装中的应用剖析、市场发展展望等多个角度,探讨在集成电路封装中,应用Flip Chip技术的必要性和重要性。
关键词 集成电路 Flip Chip技术 电子器件封装
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水汽或结构对塑封电子器件可靠性的影响研究 被引量:4
6
作者 张延赤 《电子产品可靠性与环境试验》 2010年第1期1-5,共5页
传塑封装微电子器件在回流焊时的可靠性是微电子行业内最关心的问题之一。当一个具有不良可靠性的微电子器件通过红外回流焊接炉最终被焊接在印刷线路板上时,就会发生诸如裂纹、脱层、鼓胀等致命的缺陷。长期以来,"水汽作用"... 传塑封装微电子器件在回流焊时的可靠性是微电子行业内最关心的问题之一。当一个具有不良可靠性的微电子器件通过红外回流焊接炉最终被焊接在印刷线路板上时,就会发生诸如裂纹、脱层、鼓胀等致命的缺陷。长期以来,"水汽作用"理论认为造成回流焊失效的原因是:处于潮湿环境中的封装材料-模制化合物从空气中吸收水汽,并且水汽沿着塑封体以及塑封体与引脚的界面向内扩散;当回流焊时在快速加热引起的热应力的作用下导致水汽膨胀而引起器件失效。于是回流焊前的预烘干就成为防止失效的重要手段。在多年的工作经历中遇到了"预烘干"也不能避免回流焊失效的一些生产案例,但是用"结构强度"的观点去改进结构的方法却十分有效。因此,认为"水汽理论"可能是人类认识上的一个"误区",而决定传塑封装微电子器件回流焊可靠性的首要因素应是"结构强度"。 展开更多
关键词 传塑封装电子器件 红外回流焊 可靠性 失效 水汽作用 结构强度
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“水汽”或“结构”对塑封微电子器件可靠性的影响研究
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作者 张延赤 《现代表面贴装资讯》 2011年第5期39-41,64,共4页
传塑封装微电子器件在回流焊时的可靠性是微电子行业内最关心的问题之一。当一个具有不良可靠性的微电子器件通过红外回流焊接炉最终被焊接在印刷线路板上时,就会发生诸如裂纹、脱层、鼓胀等致命缺陷。长期以来“水汽作用”理论认为造... 传塑封装微电子器件在回流焊时的可靠性是微电子行业内最关心的问题之一。当一个具有不良可靠性的微电子器件通过红外回流焊接炉最终被焊接在印刷线路板上时,就会发生诸如裂纹、脱层、鼓胀等致命缺陷。长期以来“水汽作用”理论认为造成回流焊失效的原因是:处于潮湿环境中的封装材料一模制化合物从空气中吸收水汽并且水汽沿着塑封体以及塑封体与引脚的界面向内扩散;当回流焊时在快速加热引起的热应力的作用下水汽膨胀而引起器件的失效。于是回流焊前的预烘干成为防止失效的重要手段。本文的作者是一位传塑封装工程师,在多年的工作经历中遇到了“预烘干”也不能避免回流焊失效的一些生产案例,但是用“结构强度”的观点去改进结构的方法却十分有效。因此,作者认为“水汽理论”可能是人类认识上的一个“误区”,而决定传塑封装微电子器件回流焊可靠性的真正首要因素是“结构强度”。 展开更多
关键词 传塑封装电子器件 红外回流焊 可靠性 失效 水汽作用 结构强度
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Ni对Sn96.5Ag3.5/Cu之间扩散行为的阻挡作用 被引量:7
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作者 朱奇农 罗乐 +1 位作者 肖克 杜黎光 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期199-202,共4页
研究了电镀Ni层和化学镀Ni P合金层对Sn Ag/Cu焊点扩散行为的影响 ,电子探针分析表明 :化学镀Ni P合金层能很好地阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu ,Sn互扩散和相互反应 ;而电镀Ni层则不能阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu,Sn互扩散... 研究了电镀Ni层和化学镀Ni P合金层对Sn Ag/Cu焊点扩散行为的影响 ,电子探针分析表明 :化学镀Ni P合金层能很好地阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu ,Sn互扩散和相互反应 ;而电镀Ni层则不能阻止Sn Ag/Cu焊点在焊接过程中的Cu,Sn互扩散和相互反应 ,界面反应产物仍以Cu6 Sn5 为主。应用化学镀Ni P合金作为Sn Ag/Cu之间的扩散阻挡层可大大减少Sn/Cu金属间化合物的生成 。 展开更多
关键词 扩散 电子器件封装 镍镀层 金属间化合物 钎焊
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Au-Ag-Ge钎料的研究 被引量:7
9
作者 崔大田 王志法 +2 位作者 姜国圣 郑秋波 吴泓 《贵金属》 CAS CSCD 2006年第1期16-20,共5页
通过对Au-Ag-Ge三元相图的分析确定了Au-19.25Ag-12.80Ge共晶钎料,采取包复热轧后再冷轧制备出厚度为0.1mm的钎料合金薄带,测试了该合金的熔化特性和对Ni板的浸润性。研究结果表明该钎料合金的液、固相线温度分别为490.1℃和445.0℃,合... 通过对Au-Ag-Ge三元相图的分析确定了Au-19.25Ag-12.80Ge共晶钎料,采取包复热轧后再冷轧制备出厚度为0.1mm的钎料合金薄带,测试了该合金的熔化特性和对Ni板的浸润性。研究结果表明该钎料合金的液、固相线温度分别为490.1℃和445.0℃,合金在≤550℃下对Ni板的润湿角<15°,在Ni板上的铺展面积随着温度从490℃升至550℃而逐渐增大。该合金可以满足电子器件封装焊接的要求。 展开更多
关键词 金属材料 Au—Ag—Ge钎料 熔化特性 浸润性及铺展面积 电子器件封装
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Integration of Power MOSFETs for Synchronous Buck Converters
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作者 Juan A. Herbsommer Jonathan Noquil Osvaldo Lopez David Jauregui 《Journal of Energy and Power Engineering》 2012年第7期1126-1130,共5页
Efficiency and power loss in the microelectronic devices is a major issue in power electronics applications. The engineers are challenged every year to increase power density and at the same time reduce the amount of ... Efficiency and power loss in the microelectronic devices is a major issue in power electronics applications. The engineers are challenged every year to increase power density and at the same time reduce the amount of power dissipated in the applications to keep the maximum temperatures under specifications. This situation drives a constant demand for better efficiencies in smaller packages. Traditional approaches to improve efficiency in DC/DC synchronous buck converters include reducing conduction losses in the MOSFETs (metal oxide semiconductor field effect transistors) through lower RDS (ON) (resistance drain to source in the ON state) devices and lowering switching losses through low-frequency operation. However, the incremental improvements in RDS (ON) are at a point of diminishing returns and low RDS (ON) devices have large parasitic capacitances that do not facilitate the high-frequency operation required to improve power density. The drive for higher efficiency and increased power in smaller packages is being addressed by advancements in both silicon and packaging technologies. The NexFET power block combines these two technologies to achieve higher levels of performance, and in half the space versus discrete MOSFETs. This article explains these new technologies and highlights their performance advantage. 展开更多
关键词 MOSFET synchronous buck converters INTEGRATION DC/DC converters.
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友刊链接
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《粘接》 CAS 2004年第5期58-59,共2页
关键词 电子器件高密度封装技术 聚氨酯密封胶 甲苯二异氰酸酯 聚醚多元醇 氯化聚丙烯 过氧化二苯甲酰 马来酸酐 改性 淀粉胶 硅树脂 压敏胶 中温固化树脂 YH-05羧基丁苯胶乳粘合剂 脲醛树脂胶粘剂 丙烯酸酯类粘合剂 HF-8钢筋锚固胶 电器灌封胶 环氧树脂/蒙脱土灌封
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互连、布线、隔离与装架工艺
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《电子科技文摘》 2001年第11期29-29,共1页
0118527三维(3-D)封装技术[刊]/何金奇//微电子技术.一2001,29(4).—32~41(E)适用于制造低成本微光电子模块的革新灵活而精确封装技术(见0118495)光电子器件封装用的自动制造系统技术(见0118493)采用无铅焊接材料的丝网印刷、布线和接... 0118527三维(3-D)封装技术[刊]/何金奇//微电子技术.一2001,29(4).—32~41(E)适用于制造低成本微光电子模块的革新灵活而精确封装技术(见0118495)光电子器件封装用的自动制造系统技术(见0118493)采用无铅焊接材料的丝网印刷、布线和接合技术(见0118468)采用 In-Sn 化合物的低温无焊剂键合技术(见0118467) 展开更多
关键词 装架工艺 封装技术 自动制造系统 无铅焊接材料 电子器件封装 电子技术 丝网印刷 低成本 布线 芯片规模封装
原文传递
光学集成电路、集成光路
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《电子科技文摘》 2001年第11期26-26,共1页
Y2001-62909-10 0118493光电子器件封装用的自动制造系统技术=Automationmanufacturing systems technology for opto-electronic de-vice packaging[会,英]/Jang.S.//2000 IEEE 50thElectronic Components & Technology Conference... Y2001-62909-10 0118493光电子器件封装用的自动制造系统技术=Automationmanufacturing systems technology for opto-electronic de-vice packaging[会,英]/Jang.S.//2000 IEEE 50thElectronic Components & Technology Conference.—10~14(PC)通过光电子器件封装过程中的特殊实例说明了自动封装系统(AMS)技术的最新进展,包括部件处理、封装自动化、亚微米焊接移位控制以及自动焊后纤维调节能力等。并展望了下一代 AMS 技术。 展开更多
关键词 集成光路 集成电路 自动制造系统 电子器件封装 实例说明 电子器件 自动封装 封装过程 最新进展 部件处理
原文传递
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