基于CCD的CDT电子束着屏误差自动测试系统

利用CCD图像传感器和图像采集处理技术,实现了电子束着屏误差二维自动测量。在荧光屏的前端附加垂直和水平两组微偏转线圈,通过控制微偏转线圈的电流,改变着屏点附近的磁场,使电子束着屏点的位置在一个粉点范围内精确连续可调。标准光栅的测试验证,系统绝对误差小于5m,表明该系统稳定可靠,一致性好。

CPT电子束着屏误差自动测量

采用微偏转磁场对电子束实行附加偏转的方法测量电子束着屏误差 ,使电子束着屏点在一个粉条宽度范围内连续精确可调 ,利用 (ChargeCoupleddevice)图像传感器和图像采集与处理技术 ,建立了自动测试系统。通过标准光栅的测试验证 ,表明该系统稳定可靠、精度高、一致性好 。