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ICP-MS法测定电子级高纯硝酸中的金属杂质 被引量：6
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作者 孟蓉 李红华 黄志齐 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期67-69,共3页
用ICP MS的不同状态 (标准状态、冷等离子体技术、碰撞池技术 )直接测定电子级高纯硝酸中的 34个痕量金属杂质 ,用铟作内标可补偿基体效应 ,方法检出限为 0 1～ 70ng/L ,加标回收率为 90 %～ 1 1 0 % ,相对标准偏差为 4 0 % ,样品测定... 用ICP MS的不同状态 (标准状态、冷等离子体技术、碰撞池技术 )直接测定电子级高纯硝酸中的 34个痕量金属杂质 ,用铟作内标可补偿基体效应 ,方法检出限为 0 1～ 70ng/L ,加标回收率为 90 %～ 1 1 0 % ,相对标准偏差为 4 0 % ,样品测定结果与ICP 展开更多
关键词 电子级高纯硝酸 IC-MS 痕量金属杂质 测定 分析
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