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数控机床在汽车制造中的应用
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作者 余先祥 《机电新产品导报》 2003年第4期33-35,共3页
现今的汽车生产,新产品的开发周期不断缩短,成本也不断降低,有资料显示,十年前需要四年开发周期的汽车产品,今天只需要两年就可以完成。除了汽车制造商采用了先进的新产品开发方法,虚拟制造,同步工程等先进开发技术外,很重要的... 现今的汽车生产,新产品的开发周期不断缩短,成本也不断降低,有资料显示,十年前需要四年开发周期的汽车产品,今天只需要两年就可以完成。除了汽车制造商采用了先进的新产品开发方法,虚拟制造,同步工程等先进开发技术外,很重要的一点是得益于为汽车制造提供制造装备的设备供应商的努力,尤其是这些设备供应商提供了各种数控机床,这些数控机床允许汽车制造商以最快的速度提供满足市场需求的产品。 展开更多
关键词 数控机床 汽车制造 机床分类 电子贮存器 机床设计 可靠性 敏捷制造系统
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Novel p-Channel Selected n-Channel Divided Bit-Line NOR Flash Memory Using Source Induced Band-to-Band Hot Electron Injection Programming
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作者 潘立阳 朱钧 +2 位作者 刘楷 刘志宏 曾莹 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第10期1031-1036,共6页
A novel p-channel selected n-channel divided bit-line NOR(PNOR) flash memory,which features low programming current,low power,high access current,and slight bit-line disturbance,is proposed.By using the source induced... A novel p-channel selected n-channel divided bit-line NOR(PNOR) flash memory,which features low programming current,low power,high access current,and slight bit-line disturbance,is proposed.By using the source induced band-to-band hot electron injection (SIBE) to perform programming and dividing the bit-line to the sub-bit-lines,the programming current and power can be reduced to 3.5μA and 16.5μW with the sub-bit-line width equaling to 128,and a read current of 60μA is obtained.Furthermore,the bit-line disturbance is also significantly alleviated. 展开更多
关键词 flash memory DINOR band-to-band SIBE disturbance
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