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浅述PCB电性测试设备的发展趋势
被引量:
1
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作者
侯育
《印制电路信息》
2009年第S1期355-362,共8页
新的封装技术以及新的工艺将逐步在PCB的制程上使用,PCB的电性能测试将显得格外重要,本文介绍了现阶段PCB电性能测试技术的发展和分类,PCB电性能测试技术和测试设备的现状,未来PCB测试设备的发展方向以及测试设备急需突破的技术瓶颈。
关键词
光板
电性测试技术
测试
设备原理
测试
设备发展趋势
技术
瓶颈
下载PDF
职称材料
题名
浅述PCB电性测试设备的发展趋势
被引量:
1
1
作者
侯育
机构
深圳大族明信电子有限公司
出处
《印制电路信息》
2009年第S1期355-362,共8页
文摘
新的封装技术以及新的工艺将逐步在PCB的制程上使用,PCB的电性能测试将显得格外重要,本文介绍了现阶段PCB电性能测试技术的发展和分类,PCB电性能测试技术和测试设备的现状,未来PCB测试设备的发展方向以及测试设备急需突破的技术瓶颈。
关键词
光板
电性测试技术
测试
设备原理
测试
设备发展趋势
技术
瓶颈
Keywords
Bare PCB
E-Test technology
Test Equipment principle
Test Equipment trend
technology difficulty
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
浅述PCB电性测试设备的发展趋势
侯育
《印制电路信息》
2009
1
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