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24CXX串行EEPROM测试器的设计
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作者 严新忠 《自动化与仪表》 1999年第5期12-14,共3页
该测试器可以测试24CXX的读写方式、擦写时间及擦写次数等主要性能指标,它适用于元器件采购或生产使用时对24CXX进行快速的测试和筛选。
关键词 存储器 EEPROM 测试器 电擦除式 设计
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