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浅谈电气测试系统的抗干扰及抑制
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作者 肖李李 《神州》 2013年第23期52-52,共1页
随着现代科学技术的发展,极大地推动了各学科之间的交叉与渗透。加速了各个领域内的技术革命与改造。在测试领域,由于微电子技术和计算机技术的迅速发展。为测试系统带来了前所未有的发展空间,生产方式及管理体系发生了巨大变化。本... 随着现代科学技术的发展,极大地推动了各学科之间的交叉与渗透。加速了各个领域内的技术革命与改造。在测试领域,由于微电子技术和计算机技术的迅速发展。为测试系统带来了前所未有的发展空间,生产方式及管理体系发生了巨大变化。本文从干扰形成的三要素入手,为提高测试系统的抗干扰能力提出了各种抗干扰的具体措施和方法。 展开更多
关键词 干扰源 干扰途径 电气控制测试系统 职业素养
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