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畸形中央尖牙髓状态的电活力测定
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作者 黄洋 程敏 +2 位作者 蔡家骏 李榕 王泽民 《口腔医学纵横》 CSCD 1993年第3期159-160,共2页
畸形中央尖是临床上常见的一种先天性牙体形态异常性疾病,因咀嚼磨耗致畸形中央尖折断,髓角暴露,是青少年双尖牙牙髓病、尖周病常见的发病原因之一。临床上如能早期确定患牙的牙髓状态,及时采取预防和治疗措施,对于防止牙髓感染及其并... 畸形中央尖是临床上常见的一种先天性牙体形态异常性疾病,因咀嚼磨耗致畸形中央尖折断,髓角暴露,是青少年双尖牙牙髓病、尖周病常见的发病原因之一。临床上如能早期确定患牙的牙髓状态,及时采取预防和治疗措施,对于防止牙髓感染及其并发症的发生。 展开更多
关键词 畸形中央尖 牙髓 电活力测定
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离体牙Ⅱ类洞银汞充填体对测定牙电活力的影响
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作者 蒋春梅 《口腔材料器械杂志》 1999年第4期193-193,共1页
为了解相邻牙Ⅱ类洞银汞充填后对测定电活力的影响,将10颗拔除磨牙备Ⅱ类洞,银汞充填后,按两颗一组,银汞面靠紧,测同一颗牙颊侧釉质至其(?)面银汞及相邻牙(?)银汞的电阻值,发现两者没有差异,说明在电活力测定中,由于Ⅱ类洞银汞充填体传... 为了解相邻牙Ⅱ类洞银汞充填后对测定电活力的影响,将10颗拔除磨牙备Ⅱ类洞,银汞充填后,按两颗一组,银汞面靠紧,测同一颗牙颊侧釉质至其(?)面银汞及相邻牙(?)银汞的电阻值,发现两者没有差异,说明在电活力测定中,由于Ⅱ类洞银汞充填体传导电流,可能影响邻牙的电活力测定数值。 牙髓电活力测定是判断牙髓生活状态的常用手段之一,影响因素很多,本文主要了解相邻牙的Ⅱ类洞银汞充填体是否影响测定牙齿的电活力。 展开更多
关键词 离体牙 Ⅱ类洞银汞充填体 牙髓电活力测定
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