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双极晶体管发射极电阻的提取方法及应用研究
1
作者
邱盛
王文捷
+1 位作者
王健安
张培健
《微电子学》
CAS
北大核心
2019年第2期164-167,共4页
以双多晶自对准互补双极器件中NPN双极晶体管为例,阐述了发射极电阻提取的基本原理和数学方法。在大电流情况下,NPN管的基极电流偏离理想电流是发射极串联电阻效应引起的。该提取方法综合考虑了辐照过程中NPN管的电流增益退化特性,分析...
以双多晶自对准互补双极器件中NPN双极晶体管为例,阐述了发射极电阻提取的基本原理和数学方法。在大电流情况下,NPN管的基极电流偏离理想电流是发射极串联电阻效应引起的。该提取方法综合考虑了辐照过程中NPN管的电流增益退化特性,分析了总剂量辐照效应对NPN管的损伤机理和模式。该提取方法适用于多晶硅发射极器件,也适用于SiGe HBT器件。
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关键词
多晶硅发射极
发射极电阻
总剂量辐照
电流增益退化
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职称材料
题名
双极晶体管发射极电阻的提取方法及应用研究
1
作者
邱盛
王文捷
王健安
张培健
机构
中国电子科技集团公司第二十四研究所
模拟集成电路国家重点实验室
出处
《微电子学》
CAS
北大核心
2019年第2期164-167,共4页
文摘
以双多晶自对准互补双极器件中NPN双极晶体管为例,阐述了发射极电阻提取的基本原理和数学方法。在大电流情况下,NPN管的基极电流偏离理想电流是发射极串联电阻效应引起的。该提取方法综合考虑了辐照过程中NPN管的电流增益退化特性,分析了总剂量辐照效应对NPN管的损伤机理和模式。该提取方法适用于多晶硅发射极器件,也适用于SiGe HBT器件。
关键词
多晶硅发射极
发射极电阻
总剂量辐照
电流增益退化
Keywords
polysilicon emitter
emitter resistance
total dose irradiation
current gain degradation
分类号
TN322.8 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
双极晶体管发射极电阻的提取方法及应用研究
邱盛
王文捷
王健安
张培健
《微电子学》
CAS
北大核心
2019
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