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双极 IC 电浪涌损伤诊断技术
1
作者
王宏全
《航天工艺》
1998年第2期30-34,共5页
以进口双极SN55189J电路和国产双极54S00电路为典型示例,系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术,说明了如果IC电路出现电浪涌损伤现象,应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因,采用先进技术和手段...
以进口双极SN55189J电路和国产双极54S00电路为典型示例,系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术,说明了如果IC电路出现电浪涌损伤现象,应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因,采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径,从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。
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关键词
集成
电
路
电浪涌损伤
诊断技术
双极
电
路
原文传递
题名
双极 IC 电浪涌损伤诊断技术
1
作者
王宏全
机构
航天总公司半导体器件失效分析中心
出处
《航天工艺》
1998年第2期30-34,共5页
文摘
以进口双极SN55189J电路和国产双极54S00电路为典型示例,系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术,说明了如果IC电路出现电浪涌损伤现象,应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因,采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径,从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。
关键词
集成
电
路
电浪涌损伤
诊断技术
双极
电
路
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
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1
双极 IC 电浪涌损伤诊断技术
王宏全
《航天工艺》
1998
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