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几种诊断测试系统的简单方法
1
作者
汪芳
匡晓旸
高平
《微电子技术》
2002年第2期63-65,共3页
测试系统的状态是否正常关系到测试器件的准确性和测试精度。有经验的硬件工程师和软件工程师经常会发现有时测试系统虽然自诊断通过 ,但测试器件时却参数测试不准确、功能测试失效等。这往往叫人无从下手。本文介绍几种通过软件编程。
关键词
测试
系统
电源电压测试
微电子
精密测量单元诊断
下载PDF
职称材料
题名
几种诊断测试系统的简单方法
1
作者
汪芳
匡晓旸
高平
机构
无锡华晶矽科微电子有限公司
出处
《微电子技术》
2002年第2期63-65,共3页
文摘
测试系统的状态是否正常关系到测试器件的准确性和测试精度。有经验的硬件工程师和软件工程师经常会发现有时测试系统虽然自诊断通过 ,但测试器件时却参数测试不准确、功能测试失效等。这往往叫人无从下手。本文介绍几种通过软件编程。
关键词
测试
系统
电源电压测试
微电子
精密测量单元诊断
Keywords
Testing system
Accuracy
Diagnosis
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
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作者
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1
几种诊断测试系统的简单方法
汪芳
匡晓旸
高平
《微电子技术》
2002
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