一种基于遗传算法的VDSM IC电源网格动态IR-drop分析新方法

提出了一种用于超深亚微米集成电路电源网格IR-drop验证的新方法。该方法以遗传算法为基础,与已有的分析方法相比,该方法兼具静态IR-drop分析法和动态IR-drop分析法的优点,适用于包含大型组合模块的超大规模集成电路,可主动寻找电路中最大IR-drop。通过对ISCAS85电路实现的验证,发现了静态分析法不能发现的芯片边缘IR-drop问题。实验结果验证了该方法的正确性与有效性。

集成LDO的复杂SoC芯片电源网格研究与实现

本文阐述了集成LDO的复杂SoC芯片电源网格在EPS(Encounter Power System)环境下更精确的分析和实现方法,指出了传统的基于理想电压源的电源网格分析的不足,并对EPS基于LDO的数模混合电源网格分析的结果与SPICE仿真的结果进行了比较,从而保证了集成LDO的SoC芯片的电源稳定性和时序收敛的正确性。