5,7-双羟色胺损毁大鼠中缝背核对内侧前额叶皮层锥体神经元电活动的影响

目的:研究5,7-双羟色胺(5,7-DHT)损毁大鼠中缝背核后内侧前额叶皮层(mPFC)中锥体神经元放电频率和放电形式的变化。方法:应用在体细胞外电生理学记录的方法,观察5,7-双羟色胺损毁大鼠中缝背核后,mPFC锥体神经元自发电活动的变化。结果:实验组大鼠锥体神经元的放电频率显著升高(P<0.001),使其从0.52±0.10H z升至1.25±0.20H z,放电形式趋向爆发(P<0.001)。结论:脑内5-HT递质系统对内侧前额叶皮层锥体神经元的电活动有显著影响。