非均整与传统均整X线射束的电离电荷复合率研究

目的探索电离室的电离电荷符合率(p_(ion))受各个因素的影响,对该值的测量提供参考。方法探索“双电压”法计算p_(ion)的合理性。测量工具为三维水箱,源皮距(SSD)为100 cm,射野大小为10 cm×10 cm,6 MV、6 MV-FFF能量的测量深度为5.2 cm,10 MV、10 MV-FFF能量的测量深度为10.2 cm。在上述测量条线下,应用“双电压”法和“Jaffe-plots”方法对不同能量和不同偏压对的p_(ion)进行测量计算并评估其合理性。然后探索p_(ion)与剂量率、射束能量、电离室和静电计种类、测量深度的关系。结果在部分偏置电压下,“双电压”法和“Jaffe-plots”方法计算的p_(ion)在每一档能量中都显示出很好的一致性(<0.1%)。应用不同的电离室和静电计对于p_(ion)的影响在每一档能量中均小于0.5%。剂量率的变化与p_(ion)值无统计学相关性。p_(ion)在10 MV-FFF能量中随测量深度的变化最大,最大值超过2%。结论根据上述结果,本研究建议在机器调试、射线质测量及质量控制操作之前,进行全面的p_(ion)测量。