一种高效的门级电路可靠度估算方法

随着半导体技术的不断发展,芯片的集成度越来越高,软差错已经成为影响电路可靠性的关键因素之一。为了有效评估软差错对电路的影响,该文提出一种基于信号取值概率的门级电路可靠度估算方法。首先计算电路所有节点在软差错影响下的取值概率,然后用故障模拟分析电路整体可靠性。通过对基准电路的实验并与概率转移矩阵方法进行比较,该方法在不损失准确度的前提下,在时间与空间开销方面都具有优势,尤其适合估算特定向量和随机向量激励下电路的可靠度。

基于差错概率传播模型的门级电路可靠度计算

提出了一种差错概率传播模型,该方法首先将逻辑门的差错概率加载到连接导线上进行计算,再逐个计算逻辑门的正确输出概率,最后计算得到整个电路的可靠度.与传统概率转移矩阵方法比较,所提出的改进方法有效地减小了时间和空间复杂度,能适用于大规模电路的可靠性评估.

基于伪门故障模型的PTM可靠度评估方法

为准确评价瞬时故障对电路可靠性的影响,通过将互连线故障建模在逻辑门的输入,建立伪门故障模型,并将之应用于基于Probability Transfer Matrix(PTM)的可靠度评估方法。在可靠度分析过程之中构建伪门并计算其PTM,从而计算出电路的PTM以及可靠度。通过对74系列电路和ISCAS85基准电路可靠度的计算验证了伪门故障模型以及基于伪门故障模型的PTM可靠度评估方法的有效性。