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ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡
被引量:
3
1
作者
龙加洪
许雄飞
+3 位作者
康晓宇
吴银菊
谭菊
朱奕
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2012年第4期2208-2211,共4页
建立了电感耦合等离子体-发射光谱法测定电路板制造废水中铜、镍和锡的方法,研究了消解方法及分析谱线的选择。该方法与国标原子吸收光谱法比较结果无显著性差异。方法应用于不同浓度电路板制造废水的测定,铜、镍和锡的方法检出限分别为...
建立了电感耦合等离子体-发射光谱法测定电路板制造废水中铜、镍和锡的方法,研究了消解方法及分析谱线的选择。该方法与国标原子吸收光谱法比较结果无显著性差异。方法应用于不同浓度电路板制造废水的测定,铜、镍和锡的方法检出限分别为0.006、0.005、0.008mg/L,加标回收率分别为91.6%—102.6%、93.0%—105.0%、92.6%—101.8%,相对标准偏差分别为0.7%—2.6%、1.5%—4.5%、1.1%—3.2%。
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关键词
电感耦合等离子体-发射光谱法
铜
镍
锡
电路板制造废水
原文传递
题名
ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡
被引量:
3
1
作者
龙加洪
许雄飞
康晓宇
吴银菊
谭菊
朱奕
机构
长沙市环境监测中心站
出处
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2012年第4期2208-2211,共4页
文摘
建立了电感耦合等离子体-发射光谱法测定电路板制造废水中铜、镍和锡的方法,研究了消解方法及分析谱线的选择。该方法与国标原子吸收光谱法比较结果无显著性差异。方法应用于不同浓度电路板制造废水的测定,铜、镍和锡的方法检出限分别为0.006、0.005、0.008mg/L,加标回收率分别为91.6%—102.6%、93.0%—105.0%、92.6%—101.8%,相对标准偏差分别为0.7%—2.6%、1.5%—4.5%、1.1%—3.2%。
关键词
电感耦合等离子体-发射光谱法
铜
镍
锡
电路板制造废水
Keywords
ICP-OES
Cu
Ni
Sn
Wastewater of Manufactory of Circuit Board
分类号
X832 [环境科学与工程—环境工程]
O657.31 [理学—分析化学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ICP-OES测定电路板制造废水中的铜、镍和锡
龙加洪
许雄飞
康晓宇
吴银菊
谭菊
朱奕
《光谱实验室》
CAS
CSCD
2012
3
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