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Minitab软件确定电镀镍钯金引线框架银胶扩散因素
被引量:
4
1
作者
马明明
同帜
+1 位作者
席小云
刘波涛
《电镀与涂饰》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期35-40,共6页
电镀镍钯金引线框架工艺流程繁琐,所用的导电银胶在其每一个工艺步骤都有可能使引线发生银胶扩散现象,导致产品报废。为了减少实验盲目性和不必要的经济损失,采用Minitab软件中的Plackett-Burman设计方法,对可能影响电镀镍钯金引线框架...
电镀镍钯金引线框架工艺流程繁琐,所用的导电银胶在其每一个工艺步骤都有可能使引线发生银胶扩散现象,导致产品报废。为了减少实验盲目性和不必要的经济损失,采用Minitab软件中的Plackett-Burman设计方法,对可能影响电镀镍钯金引线框架银胶扩散的20个工艺因素进行筛选,得出钯厚度、镍厚度、镀金占空比、钯比重、镀镍后酸洗盐酸体积分数和钯含量为影响银胶扩散的主要工艺参数。运用Minitab软件的田口方法优化了上述6个工艺参数,得到最佳工艺值分别是:钯厚度0.8mil,镍厚度40mil,镀金占空比0.65,镀钯液比重10.5,后酸洗盐酸体积分数0.125,钯缸中钯含量5.0g/L。单样本T方法验证的结果令人满意。
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关键词
电镀镍钯金引线框架
银胶扩散
Minitab软件
PLACKETT-BURMAN设计
田口方法
单样本T方法
原文传递
题名
Minitab软件确定电镀镍钯金引线框架银胶扩散因素
被引量:
4
1
作者
马明明
同帜
席小云
刘波涛
机构
西安工程大学环境与化工学院
深圳先进半导体有限公司
出处
《电镀与涂饰》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第4期35-40,共6页
基金
陕西省教育厅自然科学专项(07JK254)
西安工程大学自然科学基金(09XG02)
西安工程大学博士启动基金(09BS018)
文摘
电镀镍钯金引线框架工艺流程繁琐,所用的导电银胶在其每一个工艺步骤都有可能使引线发生银胶扩散现象,导致产品报废。为了减少实验盲目性和不必要的经济损失,采用Minitab软件中的Plackett-Burman设计方法,对可能影响电镀镍钯金引线框架银胶扩散的20个工艺因素进行筛选,得出钯厚度、镍厚度、镀金占空比、钯比重、镀镍后酸洗盐酸体积分数和钯含量为影响银胶扩散的主要工艺参数。运用Minitab软件的田口方法优化了上述6个工艺参数,得到最佳工艺值分别是:钯厚度0.8mil,镍厚度40mil,镀金占空比0.65,镀钯液比重10.5,后酸洗盐酸体积分数0.125,钯缸中钯含量5.0g/L。单样本T方法验证的结果令人满意。
关键词
电镀镍钯金引线框架
银胶扩散
Minitab软件
PLACKETT-BURMAN设计
田口方法
单样本T方法
Keywords
nickel/palladium/gold plated lead frame
epoxy bleed out
Minitab software
Plackett-Burman design
Taguchi method
one-sample T test
分类号
TQ153.2 [化学工程—电化学工业]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Minitab软件确定电镀镍钯金引线框架银胶扩散因素
马明明
同帜
席小云
刘波涛
《电镀与涂饰》
CAS
CSCD
北大核心
2011
4
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已选择
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参考文献
引证文献
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