MoSi_2发热体电阻率—温度曲线测试系统的设计

针对MoSi2发热元件是一种非线性小电阻元件,且其电阻率—温度曲线的测量温度范围大(0℃—1700℃)的特点,采用恒流源法结合四引线法设计出一套测量温度从0℃至1650℃的MoSi2发热元件的电阻率—温度曲线测试系统,并根据误差理论,结合测试系统在室温31℃和高温1600℃时具体的测试条件和实际测试结果,对该测试系统的不确定度进行分析。分析结果表明该测试系统具有较高的测量精度。