硅表面有机单分子膜的新表征方法──界面微分电容测量法

提出一种表征硅表面有机单分子膜的新方法界面微分电容测量法 .通过对新制备的 H-Si( 1 1 1 )表面和一系列烯烃分子修饰的硅表面 /电解液界面的微分电容的研究 ,建立了硅表面有机膜结构和性质与界面电容之间的联系 .实践证明这是一个简便、快速和有效的实验技术 ,为硅表面化学修饰与功能化研究提供了一个非常有力的工具 .

用小幅度正弦波电位法测量界面微分电容

本文介绍了一种测量电极/溶液界面微分电容的新方法,即小幅度正弦波电位法。该方法可用于大部份实际电化学系统的电容测量,且比其他几种常用的测试界面电容的方法,简捷而人为误差较小。但该法不适用于理想不极化电极。文中还讨论了溶液电阻和电化学反应电阻对该方法适用性的影响。