基于自适应学习局部二值模式的苹果叶部病斑分割与检测

为了准确、快速地检测作物叶部病害,提出一种基于自适应学习局部二值模式(adaptive learning local binary pattern,简称ALLBP)的苹果叶部病斑分割与检测方法。首先利用ALLBP获取正常叶片图像和病害叶片图像的特征差异,并确定病斑判断阈值,然后将待识别的叶片图像分割为大小相同的子块,再提取同样的特征与阈值进行比较,以判定各子块中是否有病斑。结果表明,该方法能够有效检测苹果病斑的分布特性,与局部二值模式(local binary pattern,简称LBP)和中心对称局部二值模式(center-symmetric local binary pattern,简称CS-LBP)相比,该方法具有更少的特征维数和更高的正确识别率。