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脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究
被引量:
24
1
作者
邱冬冬
张震
+2 位作者
王睿
江天
程湘爱
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第2期136-140,共5页
针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD...
针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD各分层不同程度的熔融烧蚀,使暗电流和漏电流大幅增加,导致了CCD的破坏。
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关键词
脉冲激光
CCD成像器件
破坏机理
白色亮线
黑屏
原文传递
题名
脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究
被引量:
24
1
作者
邱冬冬
张震
王睿
江天
程湘爱
机构
国防科学技术大学光电科学与工程学院
中国卫星海上测控部远望二号测量船
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011年第2期136-140,共5页
文摘
针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD各分层不同程度的熔融烧蚀,使暗电流和漏电流大幅增加,导致了CCD的破坏。
关键词
脉冲激光
CCD成像器件
破坏机理
白色亮线
黑屏
Keywords
pulsed laser
CCD imaging device
damage mechasims
bright line
blank screen
分类号
TN249 [电子电信—物理电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究
邱冬冬
张震
王睿
江天
程湘爱
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2011
24
原文传递
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