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脉冲激光对CCD成像器件的破坏机理研究 被引量:24
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作者 邱冬冬 张震 +2 位作者 王睿 江天 程湘爱 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第2期136-140,共5页
针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD... 针对脉冲激光辐照CCD造成其输出图像出现不可恢复的白色亮线和全场黑屏的破坏现象,通过测量驱动电极与衬底之间的阻值,观察光斑区域不同分层的破坏形貌和检测输出波形等方法,研究了CCD的破坏机理。研究表明:高能量的脉冲激光造成了CCD各分层不同程度的熔融烧蚀,使暗电流和漏电流大幅增加,导致了CCD的破坏。 展开更多
关键词 脉冲激光 CCD成像器件 破坏机理 白色亮线 黑屏
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