用于照射量仪校准工作的监测电离室

本文描述用于照射量仪校准工作的薄窗监测电离室的结构、性能及使用方法．就重复性而言，电离室的读数在０．２％以内相符；用于校准现场仪器时，在中等过滤的情况下误差小于１％，重过滤下不大于２％．

自制低能自由空气电离室(PRS—2)与电离室(NPL2561)的比对

1 引言 低能自由空气电离室（RPS—2）是本实验室在70年代末为解决K荧光X参考辐射照射量率的测量问题而自行研制的,见图1。 用于仪表刻度的K荧光X参考辐射源给出的低能X辐射可低达6keV或更低,ISO4073推荐的能量下限为8.6keV,而本实验室的参考仪器NPL2560次级标准照射量仪主要是用于过滤X参考辐射照射量的测量,在16.5keV以下的能区就无法给出量值。低能自由空气电离室的研制,解决了这一问题,它是从伦琴的基本定义出发,主要参考了美国NBS Ritz的类似工作而设计的。

直线加速器上、下铅门对准直器散射因子的影响

直线加速器上、下铅门对准直器散射因子的影响韩树奎，路长春准直器对束流的散射主要是准直器铅门侧面和深层的向前散射和折射及由准直器反散射到束流监测电离室（１）定义散射因子表示准直器的设置对散射的影响：ＳＦｃ（Ｄ＝Ｕ）＝Ｄａ（Ｄ×Ｕ）／Ｄａ（１０ｘ１０）（...

次级标准剂量实验室中的量值传递及互检

1 引言 次级标准剂量实验室的任务之一是将国家基准实验室的照射量值,通过次级标准实验室的参考仪器,传递到次级标准实验室。传递方法是用一系列规定射线质,例如:量值已知的Χ射线（通常可以为治疗水平）照射次级标准实验室的参考仪器,根据仪器对这一系列射线质的不同示值,给出仪器的刻度因子F_E（或校准因子）,使F_E·M等于国家基准实验室的照射量值,其中M为次级标准实验室参考仪器的示值。然后,在次级标准实验室中可用这个已经国家基准实验室刻度的参考仪器,来刻度其他仪器,或将量值再传递给其他次级标准仪器。这些其他次级标准仪器可以覆盖较宽的量程,用它们再来刻度各种各样的现场应用仪器,如各种量程的巡测仪,辐射仪,个人剂量仪,TLD,环境γ辐射监测仪等。