IEC 62132抗扰度测试方法研究

介绍关于集成电路电磁抗扰度测量方法的国际标准IEC 62132。对标准给出的四种方法——TEM小室和宽带TEM小室法、大电流注入法、射频功率直接注入法及工作台法拉第笼法的测试原理,试验布置及测试过程中的注意事项进行了说明,列出四种方法的不同点,以帮助测试人员根据不同的IC特点选择相应的试验方法。

基于BP神经网络的低压差线性稳压器电磁干扰损伤模型

低压差线性稳压器(LDO)在电磁干扰影响下会发生不同程度的性能受损,进而影响到整个系统的电磁兼容性能。为解决这一问题,提出了一种基于误差反向传播(BP)神经网络的建模方法,并使用遗传算法优化网络初始权值与阈值矩阵。采用直接功率注入法设计电路板,在100 MHz^1 GHz频率范围、-15~25 d Bm W功率范围内对LDO进行电磁干扰注入实验;采样LDO的输出作为训练数据,对不同结构的BP神经网络预测性能进行对比,选取合适的网络结构,进而构建LDO的电磁干扰损伤模型。从多个角度使用模型预测了电磁干扰对LDO输出数据和传导电磁敏感性的影响,并进行实验验证;最终采用该模型预测了LDO的传导电磁敏感度,并对比分析了模型预测数据和实验测试数据。结果表明,在100 MHz^2 GHz频率范围内,模型仿真输出与LDO测试输出的最大相对误差<8%,模型仿真所得电磁敏感度与实验测试数据的最大相对误差<9%。