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基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析 被引量：7
1
作者 潘曙娟 钟杰 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z1期354-357,共4页
介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析.
关键词 通用测试仪 直流/交流参数测试 功能测试 扫描
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