基于频率调制二元编码光栅相位测量剖面术

分析传统的频率调制正弦光栅用于3步相移相位测量剖面术时,系统非线性对测量精度的影响,提出采用二元频率调制光栅,提高3步相移相位测量剖面术计算绝对相位测量精度的方法.完成了分别采用传统正弦频率调制光栅投影和基于Floyd-Steinberg二元编码频率调制光栅投影的相移剖面术的绝对相位计算结果对比.结果表明,采用正弦频率调制光栅模板的3步相移算法对系统的非线性敏感,而二元编码频率调制光栅模板既保持了利用单组条纹投影就可计算条纹绝对相位的优点,又不受系统非线性的影响,大大提高了基于频率调制光栅的相移剖面术的测量精度.计算机模拟和实验验证了所提方法的有效性.

非恒定环境光条件下的相位测量剖面术

在野外运用相位测量剖面术 (PMP)测量物体三维面型时 ,环境光场经常发生变化 ,从而严重影响测量精度。分析了环境光场发生变化对相位测量剖面术的影响 ,并提出了一种对 CCD摄像机获取的条纹图像进行灰度校正的方法。经过校正处理 ,环境光的影响被大幅度抑制 ,提高了测量精度。

光学相位测量轮廓术的分析及应用

阐述了相位测量剖面术的原理,简介了在三维传感方面的应用。它是采用正弦光栅投影和数字相移技术,能以较低廉的光学、电子和数字硬件设备为基础,以较高的速度和精度获取和处理大量的三维数据的一种新的三维传感技术。经计算机模拟和对实际物体三维面形的测量,可以看出位相测量轮廓术简单实用,测量精度高,便于实现自动测量,是一种较为理想的光学测量方法。

在PMP中环境光强变化引入的误差与校正

在运用相位测量剖面术(PMP)对物体进行三维面形测量时,由于测量现场环境光强变化而引入较大误差,严重影响测量精度。本文分析并数字模拟了由环境光变化引入的误差,提出一种现场检测环境光强变化并根据检测结果对获取的条纹图进行校正的方法。计算机模拟和实测表明:运用此方法后减小了测量误差,提高了测量精度。