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二元位相校正技术在相控列阵光学系统中的应用
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作者 杨李茗 许乔 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第8期1138-1140,共3页
提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量... 提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量。所制作的二元器件具有8个台阶,套刻精度达到2μm,并使残留波像差降为原来的一半。 展开更多
关键词 二元光学 相控列阵光学 测试
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