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二元位相校正技术在相控列阵光学系统中的应用
1
作者
杨李茗
许乔
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第8期1138-1140,共3页
提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量...
提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量。所制作的二元器件具有8个台阶,套刻精度达到2μm,并使残留波像差降为原来的一半。
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关键词
二元
光学
相控列阵光学
测试
原文传递
题名
二元位相校正技术在相控列阵光学系统中的应用
1
作者
杨李茗
许乔
机构
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室
成都精密光学研究中心
出处
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第8期1138-1140,共3页
基金
国家高技术863航天项目
文摘
提出一种使用二元光学器件实现位相校正的新方法。在子孔径拼接的相控列阵光学系统中,采用二元光学器件二元位相校正板对子孔径拼接后产生的残留波像差进行校正,既达到位相校正技术要求,又大大简化系统结构并减小了系统的尺寸和重量。所制作的二元器件具有8个台阶,套刻精度达到2μm,并使残留波像差降为原来的一半。
关键词
二元
光学
相控列阵光学
测试
Keywords
binary optics
phase array optics
measurement
分类号
O43 [机械工程—光学工程]
TH74-39 [机械工程—光学工程]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
二元位相校正技术在相控列阵光学系统中的应用
杨李茗
许乔
《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
0
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