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题名一种相邻游程增量编码的测试数据压缩方案
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作者
吴海峰
邓博文
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机构
安庆师范大学计算机与信息学院
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出处
《安庆师范大学学报(自然科学版)》
2024年第1期72-77,共6页
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基金
安徽省高校自然科学研究重点项目(KJ2017A351)。
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文摘
随着集成电路制造工艺的高速发展,其构造越来越复杂,测试成本也越来越高,而压缩测试数据是降低测试成本的有效方法之一。本文在双游程交替编码基础上,提出了一种相邻游程增量编码的测试数据压缩方案。先通过编码表获得当前游程编码长度N,然后得到当前游程减去前一游程的差值M,当M不为负数且比N-1小时,使用M+1个0表示当前游程。在压缩过程中,通过实时对比两种编码的长度,并选择长度小的编码以进一步压缩数据,实验证明本方案有着良好的压缩效果。
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关键词
集成电路测试
测试数据压缩
相邻游程
相对长度
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Keywords
IC test
test data compression
adjacent run
relative length
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分类号
TP391.76
[自动化与计算机技术—计算机应用技术]
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