一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成

本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器(LFSR)进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。使用受控LFSR可以跳过伪随机测试序列中对故障覆盖率没有贡献的测试矢量,从而达到减少测试矢量长度,缩短测试时间的目的。

基于计数器的随机单输入跳变测试序列生成

分析了CMOS逻辑电路的功耗来源,对低功耗内建自测试技术进行了研究。为了减少被测电路内部节点的开关翻转活动率,提高测试向量之间的相关性,研究了随机单输入跳变测试生成序列,可以在不损失故障覆盖率的前提下,降低被测电路的开关翻转活动率,实现测试期间的低功耗,特别适合于数字集成电路的内建自测试。

基于脉冲跳变SVPWM的单相中点钳位型H桥级联逆变器开关损耗解析计算

为实现单相中点钳位(NPC)型H桥级联逆变器性能优化设计,分析基于脉冲跳变空间矢量脉宽调制(SVPWM)均压调制的开关损耗计算方法。针对开关管有效动作频率与控制频率不同、开关动作分散且无规律的问题,提出基于整体的开关损耗计算方法,直接计算得到所有开关的暂态损耗之和;针对均压冗余矢量动作不确定的问题,提出最值估算法对开关暂态损耗进行理论估算。仿真结果表明,推导的开关损耗解析式计算值与实际值的单个周期最大误差为9.55%,最小误差为1.29%,实验得到的损耗结果与理论值最大误差均在10%以内,表明该损耗解析式较为准确。