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长期相关过程的自相关对排队性能的影响 被引量：1
1
作者 吴昱静 孙海荣 李乐民 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第6期92-95,122,共5页
近年来，长期相关（LRD）性对ATM网的建模和控制的影响还存在分歧．本文研究了LRD过程的二阶统计特性对排队的影响，认为它受缓存大小及利用率的控制通过仿真给出了结论，并从理论上进行论证．最后，针对建模提出了建议．
关键词 长期相关 矩期相关 VBR视频 网络业务流 ATM网
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