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基于摄动法研究短沟道SOI MOSFET亚阈值特性
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作者 金林 高珊 +1 位作者 陈军宁 褚蕾蕾 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2010年第4期13-16,共4页
提出了一种新的方法对短沟道SOI MOSFETs亚阈区的二维表面势的解析模型进行了改进,即摄动法.由于在短沟道SOI MOSFETs中不仅需要计及不可动的电离杂质,而且需要考虑自由载流子的数量和分布的影响.利用摄动法求解非线性泊松方程可以得到... 提出了一种新的方法对短沟道SOI MOSFETs亚阈区的二维表面势的解析模型进行了改进,即摄动法.由于在短沟道SOI MOSFETs中不仅需要计及不可动的电离杂质,而且需要考虑自由载流子的数量和分布的影响.利用摄动法求解非线性泊松方程可以得到短沟道SOI MOSFETs二维的表面势解析模型.通过与二维数值模拟器MEDICI模拟结果比较,证明了在亚阈区改进模型所得的结果比只计及不可动的电离杂质的SOI MOSFETs模型所得的结果吻合更好. 展开更多
关键词 正则摄动 二维 表面势 亚阈值 短沟道soi MOSFETs
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GeSi Source/Drain Structure for Suppression of Short Channel Effect in SOI p-MOSFET's
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作者 黄如 卜伟海 王阳元 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期121-125,共5页
GeSi source/drain structure is purposefully adopted in SOI p MOSFET's to suppress the short channel effect (SCE).The impact of GeSi material (as source only,drain only or both source and drain) on the threshold v... GeSi source/drain structure is purposefully adopted in SOI p MOSFET's to suppress the short channel effect (SCE).The impact of GeSi material (as source only,drain only or both source and drain) on the threshold voltage rolling off and DIBL effect is thoroughly investigated,as well as the influence of the Ge concentration and silicon film thickness.The Ge concentration should be carefully chosen as a tradeoff between the driving current and SCE improvement.The detailed physics is explained. 展开更多
关键词 short channel effect MOSFET soi
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