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一种快速开短路测试算法
被引量:
1
1
作者
陈亦富
龙沪强
《电子技术(上海)》
2014年第8期64-66,共3页
文章设计了一种快速开短路测试算法,利用短路群概念。对于N个引脚的连接器,只用N-1个量测步骤即能完成所有引脚两两之间的开短路测试。而通过传统的测试算法,两两引脚之间测试开短路,N个引脚至少需要N(N-1)/2个量测步骤。且随着连接器...
文章设计了一种快速开短路测试算法,利用短路群概念。对于N个引脚的连接器,只用N-1个量测步骤即能完成所有引脚两两之间的开短路测试。而通过传统的测试算法,两两引脚之间测试开短路,N个引脚至少需要N(N-1)/2个量测步骤。且随着连接器引脚数的增加,采用新算法节约的测试时间会呈几何级数增加。
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关键词
开
短路
测试
短路群
连接器引脚
原文传递
题名
一种快速开短路测试算法
被引量:
1
1
作者
陈亦富
龙沪强
机构
上海交通大学电子信息与电气工程学院
出处
《电子技术(上海)》
2014年第8期64-66,共3页
文摘
文章设计了一种快速开短路测试算法,利用短路群概念。对于N个引脚的连接器,只用N-1个量测步骤即能完成所有引脚两两之间的开短路测试。而通过传统的测试算法,两两引脚之间测试开短路,N个引脚至少需要N(N-1)/2个量测步骤。且随着连接器引脚数的增加,采用新算法节约的测试时间会呈几何级数增加。
关键词
开
短路
测试
短路群
连接器引脚
Keywords
open-short test
short group
connector pins
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种快速开短路测试算法
陈亦富
龙沪强
《电子技术(上海)》
2014
1
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