石墨晶体预衍射X射线荧光分析中的基体影响

研究了测量U的过程中,后处理中常见基体元素Na、Al、Ru、Cs、Pd、Nd、Fe、Ce、Sr、Y、Mo、Zr等对U测量的影响。结果表明,基体元素Na、Fe、Al、Ru、Cs、Pd、Nd、Ce质量浓度在1 000 mg/L以下,对U的测量无显著影响。对U测量影响较大的元素为Sr、Y、Mo、Zr,当基体元素Sr、Y、Zr、Mo质量浓度在1 000 mg/L以下时,采用银靶散射线可以在一定程度上校正基体对U的影响;但质量浓度大于1000 mg/L时,校正效果不理想。U的Lα线强度对数和基体元素的质量浓度呈现很好的线性关系。通过数学校正法可以有效校正Sr、Y、Zr、Mo对U的影响。

石墨晶体预衍射X射线荧光法同时测定工艺样品中的低浓铀和低浓钚

利用石墨晶体预衍射X射线荧光法同时测定后处理工艺料液中的低浓铀和钚,建立了测定工艺料液中低浓铀和钚的分析方法。采用Ag靶散射线校正基体效应,以I(U)/Ic(Ag)-ρ(U)和I(Pu)/Ic(Ag)-ρ(Pu)作校正曲线,铀和钚的质量浓度均在2.00～1 000.00mg/L时线性相关系数(r2)均大于0.9990。测定结果表明U和Pu的精密度(sr)均优于5%,U的相对误差小于3.0%,Pu的相对误差小于4.0%。

小波变换-极值比较法解析EDXRF弱峰

基于小波变换算法和极值比较算法,采用石墨晶体预衍射能童色散X射线荧光仪,研究乏燃料溶液测量谱线,实现了峰位参数的准确提取与峰甩的整形。算法的核心思想包括对数预处理、小波阈值平滑、极大值极小值自适应缩放法等处理过程,在能够保留原始谱线峰位特性信息的同时,准确提取和识别弱峰,将其直观地显示在谱线中,实现谱线的精确提取与显示,并可推广至其他荧光光谱弱峰提取与谱线处理中。