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1/3码的动态CMOS全自检电路的设计
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作者 李记军 李明 陆建松 《微计算机信息》 北大核心 2006年第04Z期212-213,287,共3页
自检测电路设计方法有多种多样,本文中介绍了TSC电路的概念,并采用1/3码的动态CMOS设计TSC电路,通过在Cadence环境下仿真,仿真结果表明本设计可行。
关键词 故障安全 码宇分离 1/3码检测器 全自检测电路(TSC)
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