滚动接触疲劳作用下的铁轨裂纹萌生与扩展机理

为研究高速铁路由于滚动接触而导致铁轨表面产生裂纹的安全问题,以欧洲地区的研究为主,综述滚动接触疲劳作用下铁轨裂纹萌生与扩展机理及预测裂纹萌生与扩展机理的模型与方法,总结在该领域的研究方向与热点.

固体电解质材料中的晶界效应

本文分析了引起并影响固体电解质材料晶界电行为的因素及研究多晶固体电解质材料晶界效应的各种模型,重点讨论了"砖块模型"(brick-layer model)及其适用范围。

交直流老化后ZnO压敏电阻宏观电容量随时间变化的特性分析

针对ZnO压敏电阻在交、直流老化作用后,其宏观电容量随时间变化特性的问题,基于砖块模型(block model)对影响ZnO压敏电阻宏观电容量的相关参数进行了理论分析,通过对ZnO压敏电阻样品分别施加不同时长的交流以及直流老化试验时,发现ZnO压敏电阻的宏观电容量在接受交、直流老化后随着时间的延长呈现先降低后增长的趋势;当交、直流老化时间较短时,宏观电容量相较初始值存在小幅降低,而当交、直流老化时间较长时,宏观电容量相较初始值存在大幅的增长,得出宏观电容量随时间的变化是由界面态俘获电子的释放过程以及晶界层热破坏过程共同作用所导致的结论,这对研究ZnO压敏电阻的老化特性具有一定的参考价值。

低压ZnO压敏电阻大电流冲击老化后晶界电容随时间变化特性的分析

针对ZnO压敏电阻承受冲击老化后晶界电容随时间变化的问题,基于Block-Model(砖块模型)对影响ZnO压敏电阻晶界电容的参数进行相应分析。通过对压敏电阻样品进行不同次数的8/20波形大电流冲击试验,发现ZnO压敏电阻的晶界电容在冲击后随着时间的增长呈现出先降低后增长的趋势;当冲击次数较少时晶界电容有所降低,而冲击次数较多时晶界电容有所增加,研究表明:晶界电容的变化是由中电场区域生成的深能级施主复合和界面态俘获电子释放过程导致的。