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Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x表面结构与荧光强度相互关系的研究
被引量:
2
1
作者
贺晓
张利胜
+2 位作者
祖恩东
杨晓云
董鹍
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第1期146-150,共5页
采用固相法分别在1 150,1 250,1 350,1 450℃下制备了Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x(x=0,0.01,0.05,0.15)系列微晶材料。通过X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱仪(Raman)、光致发光光谱仪(PL)和X射线荧光光谱仪(XRF)研究了CaAl_2Si_2O_8表面结构...
采用固相法分别在1 150,1 250,1 350,1 450℃下制备了Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x(x=0,0.01,0.05,0.15)系列微晶材料。通过X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱仪(Raman)、光致发光光谱仪(PL)和X射线荧光光谱仪(XRF)研究了CaAl_2Si_2O_8表面结构与荧光强度之间的相互关系。XRD和Raman结果表明:在制备CaAl_2Si_2O_8材料的过程中,随着温度不断升高,原材料逐渐结晶形成结构较为完整的CaAl_2Si_2O_8相;并且从拉曼光谱可以清晰看出,当Eu掺杂量相同时,随着烧结温度的升高,Si—O非晶相逐渐减少,硅氧四面体逐步形成,其振动峰位置逐渐向低波数移动,但当温度过高时硅氧四面体破坏形成宽化的的非晶峰;Eu的掺杂阻碍了Al取代Si位置的过程,因此在1 620波数处振动峰先增强后减弱。这种材料表面结构的变化与Eu的掺杂密切相关,影响着材料表面Eu原子数量分布。PL和XRF结果表明:相同Eu掺杂量时,温度越高越有利于Eu原子扩散到样品表面,从而使样品的荧光强度更强。因此样品的荧光强度和样品单位表面积Eu原子数量存在正比关系。
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关键词
CaAl2Si2O8
拉曼光谱
硅
(
铝
)
氧
四面体
X荧光光谱
荧光强度
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职称材料
题名
Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x表面结构与荧光强度相互关系的研究
被引量:
2
1
作者
贺晓
张利胜
祖恩东
杨晓云
董鹍
机构
昆明理工大学材料科学与工程学院
昆明理工大学分析测试研究中心
首都师范大学北京市纳米光电子学重点实验室
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第1期146-150,共5页
基金
国家自然科学基金项目(11204189)资助
文摘
采用固相法分别在1 150,1 250,1 350,1 450℃下制备了Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x(x=0,0.01,0.05,0.15)系列微晶材料。通过X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱仪(Raman)、光致发光光谱仪(PL)和X射线荧光光谱仪(XRF)研究了CaAl_2Si_2O_8表面结构与荧光强度之间的相互关系。XRD和Raman结果表明:在制备CaAl_2Si_2O_8材料的过程中,随着温度不断升高,原材料逐渐结晶形成结构较为完整的CaAl_2Si_2O_8相;并且从拉曼光谱可以清晰看出,当Eu掺杂量相同时,随着烧结温度的升高,Si—O非晶相逐渐减少,硅氧四面体逐步形成,其振动峰位置逐渐向低波数移动,但当温度过高时硅氧四面体破坏形成宽化的的非晶峰;Eu的掺杂阻碍了Al取代Si位置的过程,因此在1 620波数处振动峰先增强后减弱。这种材料表面结构的变化与Eu的掺杂密切相关,影响着材料表面Eu原子数量分布。PL和XRF结果表明:相同Eu掺杂量时,温度越高越有利于Eu原子扩散到样品表面,从而使样品的荧光强度更强。因此样品的荧光强度和样品单位表面积Eu原子数量存在正比关系。
关键词
CaAl2Si2O8
拉曼光谱
硅
(
铝
)
氧
四面体
X荧光光谱
荧光强度
Keywords
CaAl2Si2O8
Raman spectroscopy
Silicon(aluminum)oxygen tetrahedron
X-ray fluorescence spectroscopy
Fluorescence intensity
分类号
O657.3 [理学—分析化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Ca_(1-x)Al_2Si_2O_8∶Eu_x表面结构与荧光强度相互关系的研究
贺晓
张利胜
祖恩东
杨晓云
董鹍
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
2
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职称材料
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