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基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究
被引量:
3
1
作者
刘晓兰
朱政强
+1 位作者
党元兰
徐亚新
《电子与封装》
2015年第7期37-40,共4页
针对体硅MEMS加工技术的特点,确定了悬浮微结构的加工工艺流程,并对加工过程中的硅基深槽腐蚀工艺和ICP刻蚀工艺这两项关键技术及其中的重要影响因素进行了研究,得到了硅基深槽腐蚀的溶液类型、浓度和温度等工艺参数,以及ICP刻蚀工艺的...
针对体硅MEMS加工技术的特点,确定了悬浮微结构的加工工艺流程,并对加工过程中的硅基深槽腐蚀工艺和ICP刻蚀工艺这两项关键技术及其中的重要影响因素进行了研究,得到了硅基深槽腐蚀的溶液类型、浓度和温度等工艺参数,以及ICP刻蚀工艺的功率、气体流量等工艺参数。根据优化的工艺参数,采用厚度为400μm的N型<100>硅片加工了外形尺寸为3 mm×3 mm、线宽尺寸为100±2μm、硅槽深度为390±2μm的悬浮微结构样件。
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关键词
体
硅
工艺
悬浮微结构
硅基深槽腐蚀
ICP刻蚀
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职称材料
题名
基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究
被引量:
3
1
作者
刘晓兰
朱政强
党元兰
徐亚新
机构
河北诺亚人力资源开发有限公司
中国电子科技集团公司第
北京航天控制仪器研究所
出处
《电子与封装》
2015年第7期37-40,共4页
基金
国家自然科学基金(61404119)
文摘
针对体硅MEMS加工技术的特点,确定了悬浮微结构的加工工艺流程,并对加工过程中的硅基深槽腐蚀工艺和ICP刻蚀工艺这两项关键技术及其中的重要影响因素进行了研究,得到了硅基深槽腐蚀的溶液类型、浓度和温度等工艺参数,以及ICP刻蚀工艺的功率、气体流量等工艺参数。根据优化的工艺参数,采用厚度为400μm的N型<100>硅片加工了外形尺寸为3 mm×3 mm、线宽尺寸为100±2μm、硅槽深度为390±2μm的悬浮微结构样件。
关键词
体
硅
工艺
悬浮微结构
硅基深槽腐蚀
ICP刻蚀
Keywords
bulk silicon processing
suspended micro-structure
silicon trench etching
ICP etching
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于体硅MEMS技术的悬浮微结构加工工艺研究
刘晓兰
朱政强
党元兰
徐亚新
《电子与封装》
2015
3
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