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一种硅微波功率三极管的失效分析
被引量:
1
1
作者
李兴鸿
赵俊萍
+1 位作者
赵春荣
赖世波
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第1期39-43,共5页
描述了硅微波功率三极管的失效模式,给出了器件输出功率与器件耗损功率的关系,得出了微波脉冲电流与有效值的关系,证明了器件在规定的参数范围内能可靠工作,推论了器件失效发生时的状态。指出器件的失效是热电正反馈熔融烧毁所致,是使...
描述了硅微波功率三极管的失效模式,给出了器件输出功率与器件耗损功率的关系,得出了微波脉冲电流与有效值的关系,证明了器件在规定的参数范围内能可靠工作,推论了器件失效发生时的状态。指出器件的失效是热电正反馈熔融烧毁所致,是使用问题而不是器件的本质失效;其分析过程对其它器件的失效分析有指导作用。
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关键词
硅微波功率三极管
耗散
功率
熔融蒸发
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职称材料
题名
一种硅微波功率三极管的失效分析
被引量:
1
1
作者
李兴鸿
赵俊萍
赵春荣
赖世波
机构
北京微电子技术研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第1期39-43,共5页
文摘
描述了硅微波功率三极管的失效模式,给出了器件输出功率与器件耗损功率的关系,得出了微波脉冲电流与有效值的关系,证明了器件在规定的参数范围内能可靠工作,推论了器件失效发生时的状态。指出器件的失效是热电正反馈熔融烧毁所致,是使用问题而不是器件的本质失效;其分析过程对其它器件的失效分析有指导作用。
关键词
硅微波功率三极管
耗散
功率
熔融蒸发
Keywords
silicon microwave power transistor
consumption power
melting evaporation
分类号
TN325.2 [电子电信—物理电子学]
TN323.4 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种硅微波功率三极管的失效分析
李兴鸿
赵俊萍
赵春荣
赖世波
《电子产品可靠性与环境试验》
2013
1
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