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硅氧团簇离子的TOFMS研究 被引量:1
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作者 张波 万发荣 《山东陶瓷》 CAS 1999年第2期27-30,共4页
在串级飞行时间质谱仪上,用高能密度的脉冲激光束(波长为532mm)在高真空环境中直接溅射SiO2高纯试样,获得了多种SinOm±二元簇离子,并记录了它们的飞行时间质谱图。通过对数据的详细分析,总结出了硅氧二元团簇... 在串级飞行时间质谱仪上,用高能密度的脉冲激光束(波长为532mm)在高真空环境中直接溅射SiO2高纯试样,获得了多种SinOm±二元簇离子,并记录了它们的飞行时间质谱图。通过对数据的详细分析,总结出了硅氧二元团簇的生长规律。 展开更多
关键词 硅氧团簇离子 飞行时间 质谱分析 TOFMS
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