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金刚石膜电化学清洗硅片表面有机沾污的研究(英文)
被引量:
2
1
作者
张建新
刘玉岭
+4 位作者
檀柏梅
牛新环
边永超
高宝红
黄妍妍
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期473-477,共5页
采用金刚石膜电极的电化学方式在专用水基清洗剂中不断产生强氧化剂过氧焦磷酸根离子(P2O84-),并将此方式作为金刚石膜电化学清洗工艺步骤的第一步,用于氧化去除硅片表面的有机沾污.通过与RCA清洗进行对比实验,并应用X射线光电子谱和原...
采用金刚石膜电极的电化学方式在专用水基清洗剂中不断产生强氧化剂过氧焦磷酸根离子(P2O84-),并将此方式作为金刚石膜电化学清洗工艺步骤的第一步,用于氧化去除硅片表面的有机沾污.通过与RCA清洗进行对比实验,并应用X射线光电子谱和原子力显微镜进行清洗效果的检测,结果表明,本清洗工艺处理后的硅片表面有机碳含量更少,微粗糙度小,明显优于现有的RCA清洗工艺.
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关键词
有机沾污
硅片表面清洗
掺硼金刚石膜电极
强氧化剂
微粗糙度
电化学
清洗
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职称材料
制取高浓度臭氧超净水方法及其设备
2
作者
白敏菂
何叶
杨波
《电子工业专用设备》
2018年第5期22-25,54,共5页
采用超窄间隙介质阻挡电离放电方法将氧离解、电离、电离离解成低温氧等离子体,其中O^-和O_2(a^1Δg)等活性粒子在电场中反应生成高浓度臭氧O_3,臭氧浓度达到286 mg/L。臭氧产生设备输出高浓度臭氧输送给气液溶解混合装置,将高浓度臭氧...
采用超窄间隙介质阻挡电离放电方法将氧离解、电离、电离离解成低温氧等离子体,其中O^-和O_2(a^1Δg)等活性粒子在电场中反应生成高浓度臭氧O_3,臭氧浓度达到286 mg/L。臭氧产生设备输出高浓度臭氧输送给气液溶解混合装置,将高浓度臭氧强激励溶解于超净水中形成高浓度臭氧超净水,仅用3 min其浓度达到54.6 mg/L。所形成高浓度超净臭氧水将把硅片表面颗粒物、金属离子、粘附有机物、自然氧化膜等消除掉。解决硅片表面存在的质量技术问题。
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关键词
清洗
硅片
表面
臭氧超净水
超窄间隙介质阻挡电离放电
等离子体源
气液溶解混合
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职称材料
题名
金刚石膜电化学清洗硅片表面有机沾污的研究(英文)
被引量:
2
1
作者
张建新
刘玉岭
檀柏梅
牛新环
边永超
高宝红
黄妍妍
机构
河北工业大学微电子研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期473-477,共5页
文摘
采用金刚石膜电极的电化学方式在专用水基清洗剂中不断产生强氧化剂过氧焦磷酸根离子(P2O84-),并将此方式作为金刚石膜电化学清洗工艺步骤的第一步,用于氧化去除硅片表面的有机沾污.通过与RCA清洗进行对比实验,并应用X射线光电子谱和原子力显微镜进行清洗效果的检测,结果表明,本清洗工艺处理后的硅片表面有机碳含量更少,微粗糙度小,明显优于现有的RCA清洗工艺.
关键词
有机沾污
硅片表面清洗
掺硼金刚石膜电极
强氧化剂
微粗糙度
电化学
清洗
Keywords
organic contaminations
silicon wafer surface cleaning
boron-doped diamond electrodes
powerful oxidant
micro-roughness
electrochemical cleaning
分类号
TN305.97 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
制取高浓度臭氧超净水方法及其设备
2
作者
白敏菂
何叶
杨波
机构
大连海事大学理学院
出处
《电子工业专用设备》
2018年第5期22-25,54,共5页
基金
国家高技术研究发展计划(863)(2008AA06Z317)
国家自然科基金资助项目(61371027
+2 种基金
507778028
50578020
61671100)
文摘
采用超窄间隙介质阻挡电离放电方法将氧离解、电离、电离离解成低温氧等离子体,其中O^-和O_2(a^1Δg)等活性粒子在电场中反应生成高浓度臭氧O_3,臭氧浓度达到286 mg/L。臭氧产生设备输出高浓度臭氧输送给气液溶解混合装置,将高浓度臭氧强激励溶解于超净水中形成高浓度臭氧超净水,仅用3 min其浓度达到54.6 mg/L。所形成高浓度超净臭氧水将把硅片表面颗粒物、金属离子、粘附有机物、自然氧化膜等消除掉。解决硅片表面存在的质量技术问题。
关键词
清洗
硅片
表面
臭氧超净水
超窄间隙介质阻挡电离放电
等离子体源
气液溶解混合
Keywords
Cleaning the surface of the silicon wafer
Ozone ultrapure water
Ultra-narrow gap dielectric barrier ionization discharge
Plasma source
Gas-liquid dissolving and mixing
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
金刚石膜电化学清洗硅片表面有机沾污的研究(英文)
张建新
刘玉岭
檀柏梅
牛新环
边永超
高宝红
黄妍妍
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
2
下载PDF
职称材料
2
制取高浓度臭氧超净水方法及其设备
白敏菂
何叶
杨波
《电子工业专用设备》
2018
0
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职称材料
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