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基于硅硅键合技术的高精度压力传感器的研究 被引量:4
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作者 李颖 张治国 +4 位作者 郑东明 梁峭 张哲 刘剑 祝永峰 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2017年第5期10-13,18,共5页
硅压阻压力传感器核心部件一般是由单晶硅和玻璃组成的微结构,由于单晶硅和玻璃的材料特性存在差异,在制造过程中会引入封装应力对传感器的性能产生不利影响。采用硅硅键合技术制造压力传感器核心部件的微结构,以同质材料替代异质材料... 硅压阻压力传感器核心部件一般是由单晶硅和玻璃组成的微结构,由于单晶硅和玻璃的材料特性存在差异,在制造过程中会引入封装应力对传感器的性能产生不利影响。采用硅硅键合技术制造压力传感器核心部件的微结构,以同质材料替代异质材料实现器件的封装,可有效减少封装应力,提升压力传感器的性能。文中通过结合硅压阻压力敏感芯片的制造工艺和硅硅键合工艺,实现了敏感芯片与硅衬底间的硅硅键合,键合强度达到体硅强度。研制的差压型压力敏感芯片装配成传感器的零点温度漂移下降60%,静压误差下降约1个数量级。 展开更多
关键词 高精度 传感器 硅硅键合
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基于氧等离子体活化的硅硅直接键合工艺研究 被引量:1
2
作者 张昆 廖广兰 +1 位作者 史铁林 聂磊 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2013年第5期783-786,共4页
基于氧等离子体活化的硅硅直接键合是一种新型的低温直接键合技术。为了优化工艺参数,得到高质量的键合硅片,选用正交试验法,研究了氧等离子体活化时间、活化功率、氧气流量三个重要的工艺参数对键合的影响,并采用键合率评估键合质量。... 基于氧等离子体活化的硅硅直接键合是一种新型的低温直接键合技术。为了优化工艺参数,得到高质量的键合硅片,选用正交试验法,研究了氧等离子体活化时间、活化功率、氧气流量三个重要的工艺参数对键合的影响,并采用键合率评估键合质量。研究结果表明,活化功率对键合率的影响最大,氧气流量次之,活化时间对结果影响最小,据此结论,在上述工艺中需重点关注活化功率和氧气流量的参数选择。 展开更多
关键词 氧等离子体 硅硅直接 正交试验
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一种圆片级硅三层键合的三明治加速度传感器 被引量:6
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作者 徐玮鹤 林友玲 +3 位作者 车录锋 李玉芳 熊斌 王跃林 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期230-232,共3页
提出了一种利用体微机械加工技术制作的硅三层键合电容式加速度传感器。采用硅各向异性腐蚀和深反应离子刻蚀技术实现中间梁-质量块结构的制作,通过玻璃软化键合方法完成上、下电极的键合。在完成整体结构圆片级真空封装的同时通过引线... 提出了一种利用体微机械加工技术制作的硅三层键合电容式加速度传感器。采用硅各向异性腐蚀和深反应离子刻蚀技术实现中间梁-质量块结构的制作,通过玻璃软化键合方法完成上、下电极的键合。在完成整体结构圆片级真空封装的同时通过引线腔结构方便地实现了中间电极的引线。传感器芯片大小为6.8mm×5.6mm×1.26mm,其中敏感质量块尺寸为3.2mm×3.2mm×0.42mm。对封装的传感器性能进行了初步测试,结果表明制作的传感器灵敏度约4.15pF/g,品质因子为56,谐振频率为774Hz。 展开更多
关键词 电容式加速度传感器 硅硅键合 圆片级真空封装
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硅片键合技术的研究进展 被引量:16
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作者 李和太 李晔辰 《传感器世界》 2002年第9期6-10,共5页
硅片键合技术是指通过化学和物理作用将硅片与硅片、硅片与玻璃或其它材料紧密地结合起来的方法。硅片键合往往与表面硅加工和体硅加工相结合,用在MEMS的加工工艺中。常见的硅片键合技术包括金硅共熔键合、硅/玻璃静电键合、硅/硅直接... 硅片键合技术是指通过化学和物理作用将硅片与硅片、硅片与玻璃或其它材料紧密地结合起来的方法。硅片键合往往与表面硅加工和体硅加工相结合,用在MEMS的加工工艺中。常见的硅片键合技术包括金硅共熔键合、硅/玻璃静电键合、硅/硅直接键合以及玻璃焊料烧结等。文中将讨论这些键合技术的原理、工艺及优缺点。 展开更多
关键词 硅片 MEMS 金硅共熔 阳极 硅硅直接 烧结
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硅-硅直接键合技术及其在三明治电容加速度计中的应用
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作者 何凯旋 陈博 +4 位作者 王文婧 王鹏 陈璞 黄斌 郭群英 《集成电路通讯》 2013年第1期1-8,共8页
硅硅直接键合技术在MEMS工艺中占有极其重要的地位,特别在高精度加速度计、陀螺等复杂三维结构的实现,以及晶圆级真空封装方面都有重要应用。通过大量工艺实验,获得的最佳的键合工艺流程,可使4英寸硅片键合面积达98%。将硅硅直接... 硅硅直接键合技术在MEMS工艺中占有极其重要的地位,特别在高精度加速度计、陀螺等复杂三维结构的实现,以及晶圆级真空封装方面都有重要应用。通过大量工艺实验,获得的最佳的键合工艺流程,可使4英寸硅片键合面积达98%。将硅硅直接键合技术应用到三明治电容加速度计中,芯片样品经测试获得了可靠的功能信号,单从灵敏度来讲,其性能已达到同类产品的先进水平。 展开更多
关键词 MEMS 硅硅直接 三明治电容加速度计
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一种电容间隙精确可控的高对称加速度传感器 被引量:2
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作者 毛健 车录锋 +4 位作者 林友玲 李玉芳 周晓峰 熊斌 王跃林 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期143-146,共4页
提出了一种高对称电容式微加速度传感器,该传感器为硅四层键合三明治结构,在完成传感器整体结构制作的同时,实现了圆片级真空封装。利用多次氧化的方法,既精确控制了加速度传感器的初始电容间距,又实现了限位凸点的制作。该加速度传感... 提出了一种高对称电容式微加速度传感器,该传感器为硅四层键合三明治结构,在完成传感器整体结构制作的同时,实现了圆片级真空封装。利用多次氧化的方法,既精确控制了加速度传感器的初始电容间距,又实现了限位凸点的制作。该加速度传感器的谐振频率为657Hz,品质因子为198,灵敏度为0.59V/g。 展开更多
关键词 电容式加速度传感器 硅硅键合 圆片级真空封装 电容间隙控制
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MEMS悬浮结构深反应离子刻蚀保护方法对比研究 被引量:3
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作者 何凯旋 黄斌 +2 位作者 段宝明 宋东方 郭群英 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2016年第2期202-207,共6页
分别对基于硅玻键合与硅硅键合的MEMS加工工艺中悬浮结构深反应离子刻蚀保护方法进行对比研究,获得最佳结构刻蚀保护方法。基于硅玻键合工艺的最佳刻蚀保护方法:在结构层背面溅射金属作为保护层;基于硅硅键合工艺的最佳刻蚀保护方法:将... 分别对基于硅玻键合与硅硅键合的MEMS加工工艺中悬浮结构深反应离子刻蚀保护方法进行对比研究,获得最佳结构刻蚀保护方法。基于硅玻键合工艺的最佳刻蚀保护方法:在结构层背面溅射金属作为保护层;基于硅硅键合工艺的最佳刻蚀保护方法:将结构刻通区域衬底硅暴露及结构层背面制作图形化的Si O2保护层相结合的方式保护。结构保护后,经长时间过刻蚀,结构依然完整无损。 展开更多
关键词 MEMS 硅玻 硅硅键合 深反应离子刻蚀 保护方法
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SDB技术在MEMS加速度计中的应用
8
作者 吕树海 罗蓉 +1 位作者 杨拥军 吕苗 《中国机械工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第z1期434-436,共3页
介绍了硅硅直接键合(SDB)技术的反应机理、实现方法和技术优势,重点阐述了SDB技术在MEMS加速度计中的应用;通过初步测试,表明利用SDB技术制作的加速度计具有很好的稳定性.
关键词 硅硅直接(SDB) 电感耦等离子(ICP) MEMS
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Transfer of Thin Epitaxial Silicon Films by Wafer Bonding and Splitting of Double Layered Porous Silicon for SOI Fabrication
9
作者 竺士炀 李爱珍 黄宜平 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第12期1501-1506,共6页
A double layered porous silicon with different porosity is formed on a heavy doped p type Si(111) substrate by changing current density during the anodizing.Then a high quality epitaxial mono crystalline silicon fil... A double layered porous silicon with different porosity is formed on a heavy doped p type Si(111) substrate by changing current density during the anodizing.Then a high quality epitaxial mono crystalline silicon film is grown on the porous silicon using an ultra high vacuum electron beam evaporator.This wafer is bonded with other silicon wafer with a thermal oxide layer at room temperature.The bonded pairs are split along the porous silicon layer during subsequent thermal annealing.Thus the epitaxial Si film is transferred to the oxidized wafer to form a silicon on insulator structure.SEM,XTEM,spreading resistance probe and Hall measurement show that the SOI structure has good structural and electrical quality. 展开更多
关键词 SOI porous silicon silicon epitaxy wafer bonding
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衬底硅片质量对SDB工艺的影响研究
10
作者 张贺强 《天津科技》 2014年第11期18-19,21,共3页
硅-硅直接键合技术广泛应用于SOI、MEMS和电力电子器件工艺中,衬底抛光片的质量对键合质量及器件性能起着至关重要的影响。衬底抛光片的质量包含几何尺寸精度及表面状态质量,会影响键合过程中的界面应力,或造成键合界面空洞的产生,从而... 硅-硅直接键合技术广泛应用于SOI、MEMS和电力电子器件工艺中,衬底抛光片的质量对键合质量及器件性能起着至关重要的影响。衬底抛光片的质量包含几何尺寸精度及表面状态质量,会影响键合过程中的界面应力,或造成键合界面空洞的产生,从而影响键合质量。 展开更多
关键词 硅片 抛光片 硅硅键合 质量
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