溯源至低温辐射计的硅陷阱探测器紫外波段绝对光谱响应度测量（英文）

介绍了溯源至低温辐射计的紫外绝对光谱响应度测量装置,对硅陷阱探测器在三个激光波长点进行了绝对光谱响应度校准实验.测量了硅陷阱探测器的空间均匀性和非线性系数,分析了影响测量准确度的各不确定度分量.实验表明:硅陷阱探测器在紫外波段266、325、379nm三个激光波长点处的绝对光谱响应度测量扩展不确定度分别为0.19%、0.14%、0.11%,可作为紫外波段光辐射功率基准保持和传递的标准探测器,用于提高紫外波段光谱辐射度的校准能力.

硅陷阱探测器绝对光谱响应率校准实验研究

以Ar^+Kr^+激光器、He-Ne激光器和半导体泵浦激光器作为光源,利用激光稳功率装置以及闭环机械制冷型低温辐射计,校准了硅陷阱探测器的绝对光谱响应率。在硅探测器的光谱响应范围400～1 100 nm内,选择476.1 nm、488 nm、514.7 nm、521 nm、568 nm、632.8 nm、647.1nm、1064 nm共8条谱线进行了实验研究。实验数据表明,绝对光谱响应率的测量不确定度为可见光波段优于0.02%,1 064 nm波长点优于0.03%。

硅陷阱探测器在325~980nm波段的绝对光谱响应率和量子效率测定

为获得硅陷阱光电探测器在325~980nm区间的绝对光谱响应率和量子效率,采用低温辐射计对这一波段内的11个波长点处的绝对光谱响应率进行了测量,其不确定度优于0.05%;利用Geist的经典量子效率模型对硅陷阱探测器的内量子效率进行了模拟,并与实验得出的内量子效率进行了比较。结果显示：在325~980nm波段的中间部分,理论计算与实验测得值相对偏差小于0.03%。

高精度光谱辐射标准探测器的温度特性研究

高精度辐射定标技术是现代空间遥感的主要支撑技术之一。基于滤光片辐射计的新型光辐射标准探测器在野外、机载和星上高精度辐射定标中具有广阔的应用前景。温度特性是工程应用中影响标准探测器绝对精度和稳定性的一项关键因素。在 2 0～ 6 0℃的宽温度范围内 ,对基于硅陷阱探测器的滤光片辐射计温度特性进行了系统测试和定量研究 ,在所获取的完备的实验数据基础上设计并研制了一套精密温控系统。实验结果显示在加入精密温控后 ,滤光片辐射计的温度系数降低了约一个数量级 ,从而有利于在不同温度工作平台上保持标准探测器的高精度。