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等离子化学气相沉积硅-硼-氮复合薄膜的组成和结构
1
作者
于翔
于俊峰
王成彪
《分析测试学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期83-85,共3页
利用X射线衍射 (XRD)和X光电子能谱 (XPS)等技术对射频 -直流 -等离子化学气相沉积 (RF -DC -PVCD)在钢基体上Si-B -N复合薄膜的组成和结构进行分析和研究 ;结果表明 ,通过给试样基体加一适当的直流负偏压 ,得到含有显著六方氮化硼 (h_...
利用X射线衍射 (XRD)和X光电子能谱 (XPS)等技术对射频 -直流 -等离子化学气相沉积 (RF -DC -PVCD)在钢基体上Si-B -N复合薄膜的组成和结构进行分析和研究 ;结果表明 ,通过给试样基体加一适当的直流负偏压 ,得到含有显著六方氮化硼 (h_BN)、立方氮化硼 (c_BN)结晶相的Si-B
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关键词
Si
-
B
-
N
复合
薄膜
负偏压
结构
组成
硅-硼-氮复合薄膜
金属
表面处理
等离子体化学气相沉积
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职称材料
题名
等离子化学气相沉积硅-硼-氮复合薄膜的组成和结构
1
作者
于翔
于俊峰
王成彪
机构
中国地质大学工程技术学院
出处
《分析测试学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第2期83-85,共3页
文摘
利用X射线衍射 (XRD)和X光电子能谱 (XPS)等技术对射频 -直流 -等离子化学气相沉积 (RF -DC -PVCD)在钢基体上Si-B -N复合薄膜的组成和结构进行分析和研究 ;结果表明 ,通过给试样基体加一适当的直流负偏压 ,得到含有显著六方氮化硼 (h_BN)、立方氮化硼 (c_BN)结晶相的Si-B
关键词
Si
-
B
-
N
复合
薄膜
负偏压
结构
组成
硅-硼-氮复合薄膜
金属
表面处理
等离子体化学气相沉积
Keywords
Si
-
B
-
N composite film
Negative bias voltage
Structure
Composition
分类号
TG174.45 [金属学及工艺—金属表面处理]
O484.1 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
等离子化学气相沉积硅-硼-氮复合薄膜的组成和结构
于翔
于俊峰
王成彪
《分析测试学报》
CAS
CSCD
北大核心
2002
0
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