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硒化铅芯片的制备及测试分析
1
作者
邹红军
《电子工艺技术》
2023年第2期41-43,共3页
以醋酸铅Pb(AC)_(2)和硒脲NH_(2)CSeNH_(2)为主要反应材料,以三碘化钾KI_(3)等物质为缓冲剂,采用化学沉积的方法制作硒化铅PbSe芯片。对制作出的硒化铅PbSe芯片进行电镜扫描、能谱分析及X-ray衍射分析,发现硒化铅芯片光电性能和结构有...
以醋酸铅Pb(AC)_(2)和硒脲NH_(2)CSeNH_(2)为主要反应材料,以三碘化钾KI_(3)等物质为缓冲剂,采用化学沉积的方法制作硒化铅PbSe芯片。对制作出的硒化铅PbSe芯片进行电镜扫描、能谱分析及X-ray衍射分析,发现硒化铅芯片光电性能和结构有密切关系。
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关键词
硒化铅芯片
化学沉积
光电导
光谱响应
光电性能
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职称材料
题名
硒化铅芯片的制备及测试分析
1
作者
邹红军
机构
陕西华星电子集团有限公司
出处
《电子工艺技术》
2023年第2期41-43,共3页
文摘
以醋酸铅Pb(AC)_(2)和硒脲NH_(2)CSeNH_(2)为主要反应材料,以三碘化钾KI_(3)等物质为缓冲剂,采用化学沉积的方法制作硒化铅PbSe芯片。对制作出的硒化铅PbSe芯片进行电镜扫描、能谱分析及X-ray衍射分析,发现硒化铅芯片光电性能和结构有密切关系。
关键词
硒化铅芯片
化学沉积
光电导
光谱响应
光电性能
Keywords
lead selenide chip
chemical deposition
photoconductivity
spectral response
photoelectric performance
分类号
TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
硒化铅芯片的制备及测试分析
邹红军
《电子工艺技术》
2023
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