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数字集成电路设计中的硬件加速验证技术
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作者 胡力佳 马琪 徐向阳 《现代电子技术》 2007年第11期145-147,共3页
在芯片规模指数式上升和要求面市时间快速缩短的双重压力下,验证已成为数字集成电路设计的瓶颈。利用硬件加速验证技术能很好地解决这一问题。该文论述了硬件加速验证系统的工作原理和组成结构,通过与传统HDL仿真器的比较证明了其优势,... 在芯片规模指数式上升和要求面市时间快速缩短的双重压力下,验证已成为数字集成电路设计的瓶颈。利用硬件加速验证技术能很好地解决这一问题。该文论述了硬件加速验证系统的工作原理和组成结构,通过与传统HDL仿真器的比较证明了其优势,并以Aldec公司硬件加速验证工具HES为例说明了硬件加速验证的验证流程。 展开更多
关键词 验证 硬件加速验证技术 仿真器 数字集成电路设计
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