激光聚变中硬X光能谱回推方法

介绍了滤波荧光法工作原理，以及由１０道滤波荧光谱仪测量结果回推靶等离子体中硬Ｘ光能谱的详细过程。该回推方法对初始谱有很强的适应性，解谱结果与初始试探谱无关。

用于硬X光诊断的宽量程滤波谱仪

介绍了利用滤片和探测器阵列组合的硬Ｘ光能谱仪（简称ＦＦＳ）的工作原理，结构性能和测谱特点。文章最后给出了ＦＦＳ在惯性约束聚变（ＩＣＦ）实验中测到的硬Ｘ光谱的典型结果。

10~100 keV能区硬X光探测器精密校准及应用

在惯性约束聚变实验研究中,硬X光能谱的定量诊断设备滤波荧光谱仪的核心探测元件为硬X光闪烁探测器。鉴于此,建立一种基于半导体硬X光二极管的硬X光探测器能量灵敏度校准方法,其具有快速简便的优点,量值溯源不依赖放射源强度,校准不确定度为7%。首先,利用该方法分别在硬X光机和上海同步辐射光源上实现对碘化钠和氟化钡闪烁探测器在不同能量灵敏度范围的能量灵敏度校准。其次,使用蒙特卡罗模拟程序Geant4计算两种类型探测器的理论灵敏度曲线,并与校准实验结果进行比较分析,将校准数据外推到整个能量范围(10~100 keV)。最后,将该方法应用到真空隔离片能量透过率的精密校准,低灵敏BaF_(2)闪烁探测器的校准结果可应用于高亮度硬X光源实验的研究。