一种有效的八位MCU桶形移位器BIST电路

针对8位微控制器(MCU)数据通道中桶形移位器的可测试性问题,提出了一种新颖的确定性内置自测试(BIST)电路设计方案,并对其进行了验证。该方案采用5个D触发器,在16个测试时钟周期内产生16个测试矢量,可完成对8位桶形移位器100%故障覆盖率测试。本论文的电路设计方案也可应用于一般2N位(N≥4)桶形移位器的可测试设计。